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原文传递一种金属构件表面涂层缺陷的X射线无损检测装置及方法

专利名称：	一种金属构件表面涂层缺陷的X射线无损检测装置及方法
摘要：	本发明提供一种金属构件表面涂层缺陷的X射线无损检测装置及方法，属于涂层缺陷无损检测技术领域。该装置包括主机、支架和控制显示部分，主机通过支架固定，控制显示部分控制主机运行和支架移动，并对探测信号进行显示。使用时，首先针对涂层基底材料的种类进行衍射晶面计算，然后调整主机，对待测部位通过红外激光定位，利用嵌入式软件，获取衍射图，根据衍射图的颜色或衍射信号强弱，对比标准无缺陷涂层样件的衍射图，根据德拜环形状或衍射强弱信息，判定涂层缺陷的贯穿与否或涂层的均匀性。本发明可检测涂层的缺陷，如磕碰划伤、气泡、疏松、腐蚀等。本发明结构简单,方便携带，操作简便,检测时间短，探测器与工件非接触，不损伤破坏涂层。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	北京科技大学
发明人：	张津;连勇;徐伟生;焦进超;杨振波
专利状态：	有效
申请日期：	2019-05-10T00:00:00+0800
发布日期：	2019-07-26T00:00:00+0800
申请号：	CN201910390994.5
公开号：	CN110057850A
代理机构：	北京市广友专利事务所有限责任公司
代理人：	张仲波
分类号：	G01N23/2055(2018.01);G;G01;G01N;G01N23
申请人地址：	100083 北京市海淀区学院路30号
主权项：	1.一种金属构件表面涂层缺陷的X射线无损检测装置，其特征在于：包括主机、支架(6)和控制显示器(7)，主机包括X射线管(1)、激光定位器、准直管(2)、X射线探测器(3)、信号放大器(4)和弧形导轨(5)；主机安装在支架(6)上，X射线管(1)和X射线探测器(3)依据X射线衍射原理满足布拉格条件布置，激光定位器用于确定测试点位置，准直管(2)连接X射线管(1)，用于限制光束大小，X射线探测器(3)用于收集衍射信号，弧形导轨(5)连接在支架(6)上，X射线管(1)、X射线探测器(3)和信号放大器(4)连接在弧形导轨(5)上，控制显示器(7)连接信号放大器(4)。 2.根据权利要求1所述的金属构件表面涂层缺陷的X射线无损检测装置，其特征在于：所述支架(6)为手持支架、XY自动平移支架、圆柱形检测面专用支架、机器人支架中的一种。 3.根据权利要求1所述的金属构件表面涂层缺陷的X射线无损检测装置，其特征在于：所述手持支架用于检测指定点或指定区域的涂层缺陷；所述XY自动平移支架用于工件平面区域指定范围的扫描检测；所述圆柱形检测面专用支架为针对圆柱形检测面的专用轨道及检测仪主机支架；所述机器人支架为使用机器人搭载检测仪主机。 4.根据权利要求1所述的金属构件表面涂层缺陷的X射线无损检测装置，其特征在于：所述X射线管(1)的阳极靶材能够更换，阳极靶材为Cr靶、Mn靶、Cu靶、Fe靶、Ti靶中的一种，X射线管(1)最大功率为30kV×10mA。 5.根据权利要求1所述的金属构件表面涂层缺陷的X射线无损检测装置，其特征在于：所述X射线管(1)发出的X射线光斑为圆形或方形，尺寸在0.5-6mm。 6.根据权利要求1所述的金属构件表面涂层缺陷的X射线无损检测装置，其特征在于：所述X射线探测器(3)类型为正比计数管。 7.根据权利要求1所述的金属构件表面涂层缺陷的X射线无损检测装置，其特征在于：所述控制显示器(7)用于对开机、导轨运动轨迹、信号采集、放大进行控制，并对衍射信号进行分析，同时将衍射积分强度转换为彩色图形。 8.应用权利要求1所述的金属构件表面涂层缺陷的X射线无损检测装置的方法，其特征在于：首先针对涂层基底材料的种类进行衍射晶面计算，然后调整主机，对待测部位通过红外激光定位，利用嵌入式软件，获取衍射图，根据衍射图的颜色或衍射信号强弱，对比标准无缺陷涂层样件的衍射图，根据德拜环形状或衍射强弱信息，判定涂层缺陷的贯穿与否或涂层的均匀性。 9.根据权利要求8所述的金属构件表面涂层缺陷的X射线无损检测装置的应用方法，其特征在于：该装置使用时，根据工件的形状和服役工况调整探测器至待测工件距离，最大距离为150mm。 10.根据权利要求8所述的金属构件表面涂层缺陷的X射线无损检测装置的应用方法，其特征在于：检测时，选择衍射角大于120°晶面作为衍射晶面；能够检测裂纹或孔隙大于0.1mm的涂层缺陷。
所属类别：	发明专利