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原文传递一种页岩水相圈闭损害综合评价方法

专利名称：	一种页岩水相圈闭损害综合评价方法
摘要：	本发明公开了一种页岩水相圈闭损害综合评价方法，制备页岩气藏的岩心，并对岩心分别开展页岩水相自吸及返排实验、水相圈闭损害前后的页岩甲烷吸附/解吸实验、水相圈闭损害前后页岩甲烷扩散系数测量实验，计算各个参数，再根据上述计算得到的各个参数计算岩心的页岩水相圈闭损害指数，最后根据页岩水相圈闭损害指数对页岩水相圈闭损害进行综合评价。本发明区分了基质和裂缝的损害情况，考虑了吸附气、游离气的占比，确定了页岩水相圈闭损害关键评价指标，以及各评价指标对总损害程度的贡献率，评价结果能够客观真实反应页岩水相圈闭损害程度。
专利类型：	发明专利
申请人：	西南石油大学
发明人：	陈明君;张晓怡;康毅力;游利军;白佳佳;赖哲涵;李佩松;李可明;刘江
专利状态：	有效
申请日期：	1900-01-20T00:00:00+0805
发布日期：	1900-01-20T21:00:00+0805
申请号：	CN201911414105.0
公开号：	CN111044712A
代理机构：	北京中索知识产权代理有限公司
代理人：	房立普
分类号：	G01N33/24;G01N1/08;G01N1/28;G;G01;G01N;G01N33;G01N1;G01N33/24;G01N1/08;G01N1/28
申请人地址：	610500 四川省成都市新都区新都大道8号
主权项：	1.一种页岩水相圈闭损害综合评价方法，其特征在于，包括以下步骤: S1、制备来自同一页岩气藏的、平行层理钻取的岩心，再将岩心分别烘干，干燥密封冷却后立即测量岩心的质量、长度、直径，然后干燥密封保存备用； S2、对岩心开展页岩水相自吸及返排实验，并计算渗透率损害率SK、含水饱和度SW、水相滞留率SFW； S3、对岩心开展水相圈闭损害前后的页岩甲烷吸附/解吸实验，利用Langmuir模型对页岩甲烷吸附/解吸曲线进行拟合，并分别计算吸附能力损害指数SV1和解吸能力损害指数SV2； S4、对岩心开展水相圈闭损害前后页岩甲烷扩散系数测量实验，基于扩散系数的双孔模型，分别计算第Ⅰ阶段扩散能力损害指数SD1和第Ⅱ阶段扩散能力损害指数SD2； S5、根据上述计算得到的各个参数计算岩心的页岩水相圈闭损害指数，最后根据页岩水相圈闭损害指数对页岩水相圈闭损害进行综合评价；当页岩水相圈闭损害指数≤5时，损害程度为无；当5＜页岩水相圈闭损害指数≤30时，损害程度为弱；当30＜页岩水相圈闭损害指数≤50时，损害程度为中等偏弱；当50＜页岩水相圈闭损害指数≤70时，损害程度为中等偏强；当70＜页岩水相圈闭损害指数≤90时，损害程度为强；当页岩水相圈闭损害指数＞90时，损害程度为极强。 2.根据权利要求1所述的一种页岩水相圈闭损害综合评价方法，其特征在于，所述步骤S2中的具体过程为：利用垂置自吸装置开展自吸实验，模拟水相圈闭损害形成过程；自吸48h后，测量自吸实验后岩心质量、渗透率；将自吸实验后的湿样放入岩心夹持器，在1MPa压差下返排12h后称重，再通过下式分别计算渗透率损害率SK、含水饱和度SW、水相滞留率SFW；式中：SK—渗透率损害率，％；Ki、Kd—损害前、后岩心渗透率，mD；SW—岩心含水饱和度，％；m0、m1、m2—自吸前、后及返排后岩心质量，g；SFW—返排后岩心水相滞留率，％；ρw—自吸流体密度，g/cm3；Vp—岩心孔隙体积，cm3。 3.根据权利要求1所述的一种页岩水相圈闭损害综合评价方法，其特征在于，所述步骤S3中的计算公式为：式中：—吸附前、后岩心Langmuir体积，cm3/g；SV1—吸附能力损害指数，％；—解吸前、后岩心Langmuir体积，cm3/g；SV2—解吸能力损害指数，％。 4.根据权利要求1所述的一种页岩水相圈闭损害综合评价方法，其特征在于，所述步骤S4中的计算公式为：式中：SD1、SD2—第Ⅰ阶段扩散能力损害指数、第Ⅱ阶段扩散能力损害指数，％；—第Ⅰ阶段水相圈闭损害前、后岩心扩散系数，cm3/s，—第Ⅱ阶段水相圈闭损害前、后岩心扩散系数，cm3/s。 5.根据权利要求1所述的一种页岩水相圈闭损害综合评价方法，其特征在于，所述岩心的页岩水相圈闭损害指数的计算过程为：首先确认岩心为基块岩心或裂缝岩心，然后再通过以下公式进行计算； SM＝0.061SK+0.016SW+0.006SFW+0.603SD1+0.121SD2+0.169SV2+0.024SV1 SF＝0.533SK+0.135SW+0.056SFW+0.161SD1+0.032SD2+0.073SV2+0.010SV1 式中：SM、SF—分别为基块岩心的页岩基质水相圈闭损害指数、裂缝岩心的页岩水相圈闭损害指数，％；SK—渗透率损害率，％；SW—岩心含水饱和度，％；SFW—返排后岩心水相滞留率，％；SV1、SV2—吸附能力损害指数、解吸能力损害指数，％；SD1、SD2—第Ⅰ阶段扩散能力损害指数、第Ⅱ阶段扩散能力损害指数，％。
所属类别：	发明专利