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一种基于损伤特征参数提取算法的裂纹损伤监测方法
| 专利名称： | 一种基于损伤特征参数提取算法的裂纹损伤监测方法 |
| 摘要： | 一种基于损伤特征参数提取算法的裂纹损伤监测方法，包括获取光纤光栅传感器的光谱，对光谱进行Hilbert变换得到主峰数目，并针对每一传感器对应的反射光谱峰值；通过对光纤光栅光谱的求取质心来近似求解光纤光栅光谱的中心波长；将采集到的光谱区域依据光谱能量一半的位置作为光谱边界进行划分，提取光谱宽度；在所确认的光谱边界范围内，提取该区域对应的有效光纤光栅光谱数据信息。本发明相对于现有技术其它方法，不容易受到设定阈值和求取斜率的影响，利用求取质心的办法近似求解光纤光栅光谱的中心波长，进一步校正了中心波长的偏差。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 申请人： | 中国电子科技集团公司信息科学研究院 |
| 发明人： | 金博;张峰;张卫方 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 1900-01-20T00:00:00+0805 |
| 发布日期： | 1900-01-20T21:00:00+0805 |
| 申请号： | CN201911422582.1 |
| 公开号： | CN111044471A |
| 代理机构： | 北京中知法苑知识产权代理有限公司 |
| 代理人： | 李明;赵吉阳 |
| 分类号： | G01N21/31;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/31 |
| 申请人地址： | 100086 北京市海淀区四道口北街36号院4号楼 |
| 主权项： | 1.一种基于损伤特征参数提取算法的裂纹损伤监测方法，其特征在于，包括如下步骤： Hilbert变换步骤S110：获取放置在材料结构损伤监测处的光纤光栅传感器的光谱，对光谱进行Hilbert变换得到该波段内包含的主峰数目，并针对每一传感器对应的反射光谱峰值波长进行分析获得最大能量或者强度； 有效反射光谱边界划分步骤S130：将采集到的光谱区域依据光谱能量一半的位置作为光谱边界进行划分，提取光谱宽度； 数据信息提取步骤S140：在所确认的光谱边界范围内，提取该区域对应的有效光纤光栅光谱数据信息。 2.根据权利要求1所述的裂纹损伤监测方法，其特征在于： 在步骤S110和S130之间，还具有中心波长求解步骤S120，通过对光纤光栅光谱的求取质心来近似求解光纤光栅光谱的中心波长，将波长作为质点系的位失，将反射光谱的光功率作为质心系中的质量，并对每个光谱数据分配相应的加权系数，做所有数据的加权平均值，所述加权平均值反映整个反射谱上的光功率分布情况，取该加权平均值的结果作为光纤光栅反射谱的中心波长。 3.根据权利要求2所述的裂纹损伤监测方法，其特征在于： 在进行Hilbert变换前，首先将所获得的光纤光栅传感器的光谱进行去噪处理。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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