详情

原文传递一种高填方地基整体质量评价方法

专利名称：	一种高填方地基整体质量评价方法
摘要：	本发明公开了一种高填方地基整体质量评价方法，可实现对于高填方地基质量的定量评价和图像定性评价，以此获得高填方地基整体质量的综合评价效果；包括：测得含石量，根据含石量设定压实度测试界限，当地基含石量小于或设定的压实度测试界限时，采用波电场耦合检测法测得地基的压实度；当地基含石量大于设定的压实度测试界限时，采用附加质量法测得地基的压实度；测得地基的波速分布图像和电阻率分布图像；将地基的压实度与施工标准对比，判断是否满足施工要求；根据地基波速分布图像、电阻率分布图像判断该地基是否有内部质量缺陷，如果地基的压实度满足施工要求，且没有内部质量缺陷，且地基评价为合格，否则，评价为不合格。
专利类型：	发明专利
申请人：	重庆交通大学
发明人：	刘潘;汪魁;赵明阶;付光川;金轶;郑丹
专利状态：	有效
申请日期：	1900-01-20T03:00:00+0805
发布日期：	1900-01-20T08:00:00+0805
申请号：	CN202010003581.X
公开号：	CN111122664A
代理机构：	重庆蕴博君晟知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：	郑勇
分类号：	G01N27/04;G01N9/36;G01N9/24;G01N5/00;G01V1/30;G;G01;G01N;G01V;G01N27;G01N9;G01N5;G01V1;G01N27/04;G01N9/36;G01N9/24;G01N5/00;G01V1/30
申请人地址：	400074 重庆市南岸区学府大道66号
主权项：	1.一种高填方地基整体质量评价方法，其特征在于，包括：测得地基的含石量，根据地基的含石量设定压实度测试界限，当地基含石量小于或设定的压实度测试界限时，采用波电场耦合检测法测得地基的压实度；当地基含石量大于设定的压实度测试界限时，采用附加质量法测得地基的压实度；测得地基的波速分布图像和电阻率分布图像；将地基的压实度与施工标准对比，判断地基的压实度是否满足施工要求；根据地基波速分布图像、电阻率分布图像判断该地基是否有内部质量缺陷，如果地基的压实度满足施工要求，且没有内部质量缺陷，且地基评价为合格，否则，评价为不合格。 2.如权利要求1所述的一种高填方地基整体质量评价方法，其特征在于，地基的含石量测试方法为：对现场地基进行随机取样，再进行集料筛分，并根据粒径设定土石划分界限，以确定地基含石量。 3.如权利要求2所述的一种高填方地基整体质量评价方法，其特征在于，以粒径等于5mm为土石划分界限，粒径大于等于5mm的集料划分为石，粒径小于5mm的集料划分为土。 4.如权利要求1所述的一种高填方地基整体质量评价方法，其特征在于，地基的波速分布图像测试方法为：采用工程动测仪或浅层地震仪，对高填方地基进行波速测试，再利用波速分析成像软件反演，获得地基的波速分布图像。 5.如权利要求1所述的一种高填方地基整体质量评价方法，其特征在于，地基的电阻率分布图像测试方法为：采用高密度电法仪对填方地基进行电阻率测试，再利用电阻率分析成像软件反演，获得地基的电阻率分布图像。 6.如权利要求1所述的一种高填方地基整体质量评价方法，其特征在于，压实度测试界限为含石量50％。 7.如权利要求1所述的一种高填方地基整体质量评价方法，其特征在于，地基的内部质量缺陷包括：空洞、不均匀、不密实。 8.如权利要求7所述的一种高填方地基整体质量评价方法，其特征在于，根据地基波速分布图像判断该地基是否有内部质量缺陷的方法为：若图像中整体区域内波速变化率未超过5％，则判定该地基没有内部质量缺陷，反之，则判定该地基存在内部质量缺陷。 9.如权利要求7所述的一种高填方地基整体质量评价方法，其特征在于，根据地基波电阻率分布图像判断该地基是否有内部质量缺陷的方法为：若图像中整体区域内电阻率未超过5％，则判定该地基没有内部质量缺陷，反之，则判定该地基存在内部质量缺陷。
所属类别：	发明专利