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原文传递基于化学发光法的臭氧分析方法及臭氧分析仪

专利名称：	基于化学发光法的臭氧分析方法及臭氧分析仪
摘要：	本申请涉及一种基于化学发光法的臭氧分析方法及臭氧分析仪。该臭氧分析方法包括：测量样气的第一荧光信号；使样气中的臭氧与过量一氧化氮进行反应以生成激发态的二氧化氮；测量二氧化氮返回基态过程中的第二荧光信号；根据第一荧光信号和第二荧光信号分析样气中的臭氧浓度。本申请的臭氧分析方法，臭氧与一氧化氮气体发生化学发应后发光，化学反应本身以及发光特征波长都具有较高的选择性，所以可以解决共存物质干扰的问题，使得测量结果更加准确可靠。
专利类型：	发明专利
申请人：	北京雪迪龙科技股份有限公司
发明人：	敖小强;师耀龙;潘本锋;姜加龙;张保杰
专利状态：	有效
申请日期：	1900-01-20T06:00:00+0805
发布日期：	1900-01-20T10:00:00+0805
申请号：	CN202010010722.0
公开号：	CN110987911A
代理机构：	北京律和信知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：	张羽;姚志远
分类号：	G01N21/76;G01N21/64;G01N33/00;G;G01;G01N;G01N21;G01N33;G01N21/76;G01N21/64;G01N33/00
申请人地址：	102206 北京市昌平区回龙观国际信息产业基地3街3号
主权项：	1.一种基于化学发光法的臭氧分析方法，其特征在于，包括：测量样气的第一荧光信号；使所述样气中的臭氧与过量一氧化氮进行反应以生成激发态的二氧化氮；测量所述二氧化氮返回基态过程中的第二荧光信号；根据所述第一荧光信号和所述第二荧光信号分析所述样气中的臭氧浓度。 2.根据权利要求1所述的臭氧分析方法，其特征在于，所述根据所述第一荧光信号和所述第二荧光信号分析所述样气中的臭氧浓度包括：根据所述第一荧光信号、所述第二荧光信号和标准曲线方程分析所述样气中的臭氧浓度。 3.根据权利要求2所述的臭氧分析方法，其特征在于，所述根据所述第一荧光信号和所述第二荧光信号分析所述样气中的臭氧浓度之前，还包括建立所述标准曲线方程。 4.根据权利要求3所述的臭氧分析方法，其特征在于，所述建立所述标准曲线方程包括：分别测量不同浓度的标准臭氧的第三荧光信号；不同浓度的标准臭氧分别与过量一氧化氮进行反应以生成激发态的二氧化氮；分别测量所述二氧化氮返回基态过程中的第四荧光信号；根据所述标准臭氧的浓度、所述第三荧光信号和所述第四荧光信号建立所述标准曲线方程。 5.一种基于化学发光法的臭氧分析仪，其特征在于，包括：反应室，包括样气入口、一氧化氮入口、气体出口和透明窗口；荧光探测器，用于检测600-3000nm波长的荧光信号；所述荧光探测器的探测部分与所述透明窗口相连。 6.根据权利要求5所述的臭氧分析仪，其特征在于，还包括第一限流装置，所述第一限流装置连接所述反应室的一氧化氮入口。 7.根据权利要求5所述的臭氧分析仪，其特征在于，还包括第二限流装置，所述第二限流装置连接所述反应室的样气入口。 8.根据权利要求5所述的臭氧分析仪，其特征在于，还包括除NO装置，连接所述反应室的气体出口；气泵，连接所述除NO装置。 9.根据权利要求5所述的臭氧分析仪，其特征在于，所述反应室的材质为铝。 10.根据权利要求5所述的臭氧分析仪，其特征在于，还包括分析单元，连接所述荧光检测器，用于根据所述荧光信号分析所述样气中的臭氧浓度。
所属类别：	发明专利