详情

原文传递岩石压缩形变测量装置及系统

专利名称：	岩石压缩形变测量装置及系统
摘要：	本发明涉及光学测量器件领域，主要涉及一种岩石压缩形变测量装置及系统。本申请通过将长方体壳体的四个侧面上分别垂直于侧面设置有第一测量部、第二测量部、第三测量部和第四测量部；第一测量部、第二测量部、第三测量部和第四测量部的另一端分别抵持在样品槽上，该待测岩石在压力的作用下，发生形变的时候，挤压该第一测量部、第二测量部、第三测量部和第四测量部弹性臂发生形变，由于该光栅光纤紧贴该弹性臂设置，所以该光栅光纤也相应发生形变，进而使得经过该光栅光纤反射回光纤的光的光谱发生改变，通过对该光纤的出射光的光谱进行检测，经过计算就可以准确的到的该待测岩石的弹性模量。
专利类型：	发明专利
申请人：	中山科立特光电科技有限公司
发明人：	不公告发明人
专利状态：	有效
申请日期：	1900-01-20T11:00:00+0805
发布日期：	1900-01-20T08:00:00+0805
申请号：	CN202010086209.X
公开号：	CN111122310A
分类号：	G01N3/06;G01N3/08;G;G01;G01N;G01N3;G01N3/06;G01N3/08
申请人地址：	528458 广东省中山市火炬开发区中心城区港义路创意产业园区3号商务楼附楼2501卡(集群登记、住所申报)
主权项：	1.一种岩石压缩形变测量装置，其特征在于，所述岩石压缩形变测量装置包括：样品槽、第一测量部、第二测量部、第三测量部、第四测量部和壳体；所述壳体为长方体，所述长方体壳体包括一个底面和四个侧面，所述长方体壳体的四个侧面上分别垂直于所述侧面设置有所述第一测量部、所述第二测量部、所述第三测量部和所述第四测量部；所述第一测量部、所述第二测量部、所述第三测量部和所述第四测量部的另一端分别抵持在所述样品槽上；所述第一测量部、所述第二测量部、所述第三测量部和所述第四测量部均包括：受力部、弹性臂、固定部、光栅光纤和光纤；所述受力部一端与所述样品槽连接，另一端与所述弹性臂连接，所述弹性臂的另一端与所述固定部连接，所述固定部的另一端以所述壳体的侧面连接，所述光纤与所述光栅光纤连接，并设置在所述弹性臂的一侧，所述光纤的另一端穿过所述壳体的侧面。 2.根据权利要求1所述的岩石压缩形变测量装置，其特征在于，所述岩石压缩形变测量装置还包括弹性层，所述弹性层设置在所述弹性臂与所述光栅光纤之间。 3.根据权利要求1所述的岩石压缩形变测量装置，其特征在于，所述岩石压缩形变测量装置还包括弹性部，所述弹性部设置在所述光栅光纤与所述受力槽之间，并且所述光栅光纤的侧面与所述受力部连接。 4.根据权利要求3所述的岩石压缩形变测量装置，其特征在于，所述弹性部的材料为透明材料。 5.根据权利要求3所述的岩石压缩形变测量装置，其特征在于，所述岩石压缩形变测量装置还包括贵金属膜，所述贵金属膜设置在所述弹性部与所述受力部之间。 6.根据权利要求1所述的岩石压缩形变测量装置，其特征在于，所述第一测量部、所述第二测量部、所述第三测量部和所述第四测量部中的所述弹性臂的长度不相同。 7.一种岩石压缩形变测量系统，其特征在于，所述岩石压缩形变测量系统包括光源、光探测器和权利要求1-6任意一项所述的岩石压缩形变测量装置，所述光纤的另一端分别与所述光源和所述光探测器连接，所述光源用于产生光，所述光探测器用于对经所述光纤传出的光进行检测。 8.根据权利要求7所述的岩石压缩形变测量系统，其特征在于，所述光探测器包括光谱仪和光强探测器中至少一种。
所属类别：	发明专利