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原文传递一种荧光检测仪器的校准方法

专利名称：	一种荧光检测仪器的校准方法
摘要：	本发明提供了一种荧光检测仪器的校准方法，该荧光检测仪器的校准方法采用现有的经过计量确定的标准设备进行定标操作，以该定标操作保证具有标准可追溯性和确定性，其能适合大批量和精确测量和提高荧光检测仪器在批量生产过程中的质量一致性，此外，该方法还可用于对荧光检测仪器进行质控以及保证荧光检测仪器性能参数的一致性。
专利类型：	发明专利
申请人：	深圳市华科瑞科技有限公司
发明人：	丁卫东;苏四美
专利状态：	有效
申请日期：	1900-01-20T06:00:00+0805
发布日期：	1900-01-20T15:00:00+0805
申请号：	CN202010010067.9
公开号：	CN111157499A
代理机构：	北京冠和权律师事务所
代理人：	张楠楠
分类号：	G01N21/64;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/64
申请人地址：	518000 广东省深圳市坪山区坑梓街道金辉路16-1号(邦健健康工业区)A栋7楼
主权项：	1.一种荧光检测仪器的校准方法，其特征在于，所述荧光检测仪器的校准方法包括如下步骤：步骤S1，通过放置于所述荧光检测仪器原有试纸条位置的光强测量仪，对所述荧光检测仪器对应的激发光源器进行关于发光强度的第一校准处理，其中，所述激发光源器的发光波长为λ1；步骤S2，通过放置于所述荧光检测仪器原有试纸条位置的标准光源，对所述荧光检测仪器对应的信号检测器进行关于检测精度的第二校准处理，其中，所述标准光源的发光波长为λ2，且λ1不同于λ2。 2.如权利要求1所述的荧光检测仪器的校准方法，其特征在于：在所述步骤S1中，通过放置于所述荧光检测仪器原有试纸条位置的光强测量仪，对所述荧光检测仪器对应的激发光源器进行关于发光强度第一校准处理具体包括，步骤S101，获取关于所述荧光检测仪器原有试纸条位置的第一属性信息，并根据所述第一属性信息，对所述光强测量仪进行第一布设操作；步骤S102，根据所述第一布设操作的结果，获取关于所述激发光源器位置的第二属性信息；步骤S103，根据所述第二属性信息，调整所述激发光源器的发光工作模式，以实现所述关于发光强度的第一校准处理。 3.如权利要求2所述的荧光检测仪器的校准方法，其特征在于：在所述步骤S101中，获取关于所述荧光检测仪器原有试纸条位置的第一属性信息，并根据所述第一属性信息，对所述光强测量仪进行第一布设操作具体包括，步骤S1011，获取关于所述荧光检测仪器原有试纸条位置的位置区域面积数据和/或位置朝向数据，以作为所述第一属性信息；步骤S1012，获取关于所述光强测量仪的受光区域面积数据和受光灵敏度数据；步骤S1013，根据所述第一属性信息、所述受光区域面积数据和所述受光灵敏度数据，确定所述光强测量仪的最佳布设位置，其中，所述最佳布设位置通过下面过程确定：假设原有试纸条位置的位置区域面积为S，所述位置区域的朝向角度为j，所述光强测量仪的受光区域面积为St，其受光灵敏度为M，同时确定检测时间为t，环境系数为H，所述环境系数由环境温度、环境湿度和环境气体成分来确定，所述环境系数H通过下面公式(1)计算得到在上述公式(1)中，P为环境温度、Q为环境湿度，zi、Fi分别为气体i的折射率和浓度，i为环境气体成分的编号，i＝1、2、3、…、n；通过下面公式(2)计算得到所述最佳布设位置P(x，y) 在上述公式(2)中，K(x，y)为原有试纸条相对于光源的位置坐标；步骤S1014，根据所述最佳布设位置，对所述光强测量仪进行所述第一布设操作。 4.如权利要求2所述的荧光检测仪器的校准方法，其特征在于：在所述步骤S102中，根据所述第一布设操作的结果，获取关于所述激发光源器位置的第二属性信息具体包括，步骤S1021，获取所述激发光源器的尺寸信息和光发射口位置信息，以作为所述第二属性信息的一部分；步骤S1022，根据所述第一布设操作的结果，确定所述光强测量仪与所述激发光源器之间的相对位姿信息，以作为所述第二属性信息的一部分。 5.如权利要求2所述的荧光检测仪器的校准方法，其特征在于：在所述步骤S103中，根据所述第二属性信息，调整所述激发光源器的发光工作模式，以实现所述关于发光强度的第一校准处理具体包括，步骤S1031，从所述第二属性信息中提取关于所述激发光源器的尺寸信息和光发射口位置信息，以及所述光强测量仪与所述激发光源器之间的相对位姿信息；步骤S1032，根据所述尺寸信息、所述光发射口位置信息和所述相对位姿信息，构建关于所述激发光源器的光发射模型；步骤S1033，对所述光发射模型进行优化处理，以调整所述激发光源器的发光工作模式，从而实现所述关于发光强度的第一校准处理。 6.如权利要求5所述的荧光检测仪器的校准方法，其特征在于：在所述步骤S1033中，对所述光发射模型进行优化处理，以调整所述激发光源器的发光工作模式，从而实现所述关于发光强度的第一校准处理具体包括，步骤S10331，对所述光发射模型进行关于激发光源器光路属性和/或电路属性的优化处理，以确定关于所述激发光源器的待调整光路参数和/或电路参数；步骤S10332，根据所述待调整光路参数和/或所述电路参数，调整所述激发光源器的光学聚焦参数和/或供电电路参数，以实现所述第一校准处理。 7.如权利要求1所述的荧光检测仪器的校准方法，其特征在于：在所述步骤S2中，通过放置于所述荧光检测仪器原有试纸条位置的标准光源，对所述荧光检测仪器对应的信号检测器进行关于检测精度的第二校准处理具体包括，步骤S201，获取关于所述荧光检测仪器原有试纸条位置的第一属性信息和所述荧光检测仪器的光学模块的成像属性信息；步骤S202，根据所述第一属性信息和所述成像属性信息，对所述标准光源进行第二布设操作；步骤S203，根据所述第二布设操作的结果，获取关于所述信号检测器的第三属性信息；步骤S204，根据所述第三属性信息，调整所述信号检测器的检测工作模式，以实现所述关于检测精度的第二校准处理。 8.如权利要求7所述的荧光检测仪器的校准方法，其特征在于：在所述步骤S201中，获取关于所述荧光检测仪器原有试纸条位置的第一属性信息和所述荧光检测仪器的光学模块的成像属性信息具体包括，获取关于所述荧光检测仪器原有试纸条位置的位置区域面积数据和/或位置朝向数据，以作为所述第一属性信息，以及获取关于所述成像模块的曝光参数、聚焦参数和滤光参数中的至少一者，以作为所述成像属性信息；或者，在所述步骤S202中，根据所述第一属性信息和所述成像属性信息，对所述标准光源进行第二布设操作具体包括，步骤S2021，根据所述第一属性信息和所述成像属性信息，确定所述标准光源的最佳布设位置；步骤S2022，根据所述最佳布设位置，对所述标准光源进行所述第二布设操作。 9.如权利要求7所述的荧光检测仪器的校准方法，其特征在于：在所述步骤S203中，根据所述第二布设操作的结果，获取关于所述信号检测器的第三属性信息具体包括，获取所述信号检测器的受光面积尺寸信息和光电转换灵敏度信息，以所述第三属性信息。 10.如权利要求7所述的荧光检测仪器的校准方法，其特征在于：在所述步骤S204中，根据所述第三属性信息，调整所述信号检测器的检测工作模式，以实现所述关于检测精度的第二校准处理具体包括，步骤S2041，从所述第三属性信息中提取关于所述信号检测器的受光面积尺寸信息和光电转换灵敏度信息，以此关于所述信号检测器的光接收感应模型；步骤S2042，对所述光接收感应模型进行优化处理，以调整所述信号检测器的光电转换工作模式，以使所述信号检测器的最小信号检测强度和/或检测灵敏度满足预设条件，从而实现所述第二校准处理。
所属类别：	发明专利