专利名称: |
一种导模共振传感器的折射率检测方法 |
摘要: |
本发明涉及一种导模共振传感器的折射率检测方法,检测时将线偏振光倾斜入射到导模共振传感器上,探测器接受透射光。倾斜入射下,透射光谱上会出现两个导模共振峰,当入射角θ逐渐增大时,短波峰会发生蓝移,长波峰会发生红移。入射角等于或大于特定值时,蓝移的共振峰波长值等于或小于光栅周期值,认为是非亚波长入射条件。非亚波长入射条件下,将短波峰与长波峰之间的波长差作为检测量,测量样品折射率变化前后波长差的变化量,波长差的变化量与折射率变化量之间的比值,就是这种传感器的灵敏度。此方法能够有效提高此类传感器在检测液体或气体折射率变化时的灵敏度。此外,本发明涉及的光栅周期更大,有效降低了传感器的制作难度。 |
专利类型: |
发明专利 |
申请人: |
江苏师范大学 |
发明人: |
钱林勇;朱雯;李海涛;闫长春 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
1900-01-20T20:00:00+0805 |
发布日期: |
1900-01-20T12:00:00+0805 |
申请号: |
CN202010065434.5 |
公开号: |
CN111141705A |
代理机构: |
南京经纬专利商标代理有限公司 |
代理人: |
汤金燕 |
分类号: |
G01N21/41;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/41 |
申请人地址: |
221116 江苏省徐州市铜山新区上海路101号 |
主权项: |
1.一种导模共振传感器的折射率检测方法,其特征在于,包括以下步骤: 将测量对象放置于导模共振传感器的光栅表面,其中,所述导模共振传感器包括:光栅层、波导层和基底; 将线偏振光以设定角度θ倾斜入射到测量对象表面,使线偏振光穿过所述导模共振传感器变成透射光射出; 将所述透射光导入光谱仪得到透射光谱,所述光谱仪读取所述透射光谱得到两个共振峰,所述光谱仪提取所述两个共振峰的波长差λ; 检测系统获取所述测量对象的折射率在设定时间段初始时刻和设定时间段终止时刻之间的折射率变化值Δnc,以及所述两个共振峰的波长差λ在设定时间段初始时刻和设定时间段终止时刻之间的波长差变化值Δλ; 根据所述测量对象的折射率变化值Δnc和所述波长差变化值Δλ确定灵敏度S。 2.根据权利要求1所述的一种导模共振传感器的折射率检测方法,其特征在于,所述灵敏度S的确定过程包括: S=Δλ/Δnc。 3.根据权利要求1所述的一种导模共振传感器的折射率检测方法,其特征在于,所述设定角度θ大于等于37.25度。 4.根据权利要求1所述的一种导模共振传感器的折射率检测方法,其特征在于,将所述线偏振光以设定角度θ倾斜入射到测量对象表面,使线偏振光穿过所述导模共振传感器变成透射光射出之前,还包括: 所述线偏振光通过用复色光源准直后,经过起偏器获得。 5.根据权利要求1所述的一种导模共振传感器的折射率检测方法,其特征在于,所述透射光的获取过程包括:通过光纤或空间光耦合器获得透射光;将所述透射光导入光谱仪的过程包括:将所述透射光耦合进入光谱仪。 |
所属类别: |
发明专利 |