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原文传递一种X荧光光谱仪监控直读光谱仪的检测方法

专利名称：	一种X荧光光谱仪监控直读光谱仪的检测方法
摘要：	本发明涉及一种X射线荧光光谱仪监控直读光谱仪的检测方法，包括以下步骤：（1）对试样加工，制成满足荧光仪的测试样品；（2）使用碳硫仪、光谱仪和化学法对试样定值；（3）确定仪器参数，设定各元素的分析条件；（4）采用国家标准样品和自产试样绘制校准曲线；（5）消除干扰，修正校准曲线；（6）根据修正后校准曲线测定样品。本发明一种X荧光光谱仪监控直读光谱仪的检测方法，可以准确检测生铁球拍样，大大提高分析结果准确度，不仅对直读光谱仪的检测起到监控作用，同时对铁水分析起到了双重监控的效果，保证了分析数据的准确性和一致性，为指导下一道工序炼钢的生产提供有效保障。
专利类型：	发明专利
申请人：	宣化钢铁集团有限责任公司
发明人：	吕彦凤;赵兰季;张育新;许鸿英;陈泽;石连霞;耿艳霞;田文清;朱雪峰
专利状态：	有效
申请日期：	1900-01-20T08:00:00+0805
发布日期：	1900-01-20T22:00:00+0805
申请号：	CN202010019153.6
公开号：	CN111189866A
代理机构：	石家庄冀科专利商标事务所有限公司
代理人：	李桂芳
分类号：	G01N23/223;G01N23/2202;G01N21/25;G;G01;G01N;G01N23;G01N21;G01N23/223;G01N23/2202;G01N21/25
申请人地址：	075100 河北省张家口市宣化区宣府大街93号
主权项：	1.一种X射线荧光光谱仪监控直读光谱仪的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：（1）对试样加工，制成满足荧光仪的测试样品；（2）使用碳硫仪、光谱仪和化学法对试样定值；（3）确定仪器参数，设定各元素的分析条件；（4）采用国家标准样品和自产试样绘制校准曲线；（5）消除干扰，修正校准曲线；（6）根据修正后校准曲线测定样品。 2.根据权利要求1所述的一种X射线荧光光谱仪监控直读光谱仪的检测方法，其特征在于，步骤（1）试样经20-60目砂纸粗磨，再经80-120目砂纸细磨，试样表面无污染、无变色，满足荧光仪分析标准。 3.根据权利要求1所述的一种X射线荧光光谱仪监控直读光谱仪的检测方法，其特征在于，步骤（1）将试样制成无沙粒、无金属屑杂物、检测面无气孔和无砂眼缺陷的柱状样品。 4.根据权利要求1所述的一种X射线荧光光谱仪监控直读光谱仪的检测方法，其特征在于，步骤（3）试样检测前进行设备点检维护，检查电子柜温度35±0.5℃，内水冷的电导率0-20*10-8Ω-1，内部循环水流量大于3.5L/min、内部循环水压力0.3±0.05MPa，光管管压30-50Kv、管流50-90mA，抽真空时间小于1min。 5.根据权利要求4所述的一种X射线荧光光谱仪监控直读光谱仪的检测方法，其特征在于，管压和管流乘积不超过光管的最大功率。 6.根据权利要求1所述的一种X射线荧光光谱仪监控直读光谱仪的检测方法，其特征在于，步骤（5）利用步骤（2）碳硫仪、光谱仪和化学法对试样定值，对步骤（4）绘制校准曲线进行修正。 7.根据权利要求6所述的一种X射线荧光光谱仪监控直读光谱仪的检测方法，其特征在于，修正方法包括以下步骤：①将不在线的点进行再次定值，确定样品的准确值；②观察样品检测面是否存在其它缺陷；③重新磨制样品检测面；④排除样品自身原因造成的不在线；⑤确定取舍；⑥修正校正曲线。 8.根据权利要求1-7任一项所述的一种X射线荧光光谱仪监控直读光谱仪的检测方法，其特征在于，步骤（1）所述的试样为生铁球拍样品。
所属类别：	发明专利