专利名称: |
一种膜材缺陷的投影检验方法 |
摘要: |
本发明公开了一种膜材缺陷的投影检验方法,包括如下步骤:步骤一,打开投影仪将投影光调节至纯色光源;步骤二,将待检验的膜材平行于投影仪的镜头放在投影仪与投影幕布之间的投影光线内,调整膜材位置,直至在投影幕布上可见待检验膜材的影像;步骤三,旋转膜材来调整膜材相对投影仪镜头之间的夹角,观察在不同角度下投影幕布上的膜材影像;步骤四,通过观察膜材影像来判断膜材上存在缺陷的现象和位置。本发明有益效果在于提供一种膜材缺陷的检验方法,通过投影成像,将膜材的不同不良位置对光的折射不同,从而产生光线聚集或分散在投影幕上形成亮度差异的原理,能够实现对膜材均匀度的检测。 |
专利类型: |
发明专利 |
申请人: |
重庆烯宇新材料科技有限公司 |
发明人: |
李韶栋;张林;甘李;唐波;周明;杨建文 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
1900-01-20T14:00:00+0805 |
发布日期: |
1900-01-20T22:00:00+0805 |
申请号: |
CN202010038323.5 |
公开号: |
CN111189849A |
代理机构: |
重庆上义众和专利代理事务所(普通合伙) |
代理人: |
谭勇 |
分类号: |
G01N21/95;G01N21/41;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/95;G01N21/41 |
申请人地址: |
401420 重庆市綦江区工业园区A区标准化厂房12.13号 |
主权项: |
1.一种膜材缺陷的投影检验方法,其特征在于,包括如下步骤: 步骤一,打开投影仪将投影光调节至纯色光源; 步骤二,将待检验的膜材平行于投影仪的镜头放在投影仪与投影幕布之间的投影光线内,调整膜材位置,直至在投影幕布上可见待检验膜材的影像; 步骤三,旋转膜材来调整膜材相对投影仪镜头之间的夹角,观察在不同角度下投影幕布上的膜材影像; 步骤四,通过观察膜材影像来判断膜材上存在缺陷的现象和位置。 2.根据权利要求1所述的膜材缺陷的投影检验方法,其特征在于,纯色光源为红色、绿色、蓝色或者白色光源。 3.根据权利要求1所述的膜材缺陷的投影检验方法,其特征在于,待检验的膜材放置在投影光线内时,与投影仪的镜头相距一米至两米。 4.根据权利要求1所述的膜材缺陷的投影检验方法,其特征在于,在步骤三中,膜材与投影仪镜头之间的夹角在30°至70°之间进行调整。 |
所属类别: |
发明专利 |