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原文传递一种计算动态再结晶体积分数的方法

专利名称：	一种计算动态再结晶体积分数的方法
摘要：	本发明属于金属材料微观组织检测领域，具体涉及一种计算动态再结晶体积分数的方法。包括步骤：S1、将原始试样加工成圆柱型试样；S2、选取合适的加工参数，并使用热力模拟试验机对试样进行热压缩；S3、对变形后的试样沿压缩方向进行切割并对切割后的试样进行机械打磨、金相腐蚀；S4、使用金相显微镜对热压缩后高温合金动态再结晶体积进行测量。本发明通过金相显微镜观察变形后试样的组织形貌，计算获取热压缩后高温合金动态再结晶体积分数，测量准确性高，方便快捷，为动态再结晶体积分数测量提供了一个新的方法。
专利类型：	发明专利
申请人：	江苏大学
发明人：	李冬升;王威;商显耀;赵恩旭;陈光
专利状态：	有效
申请日期：	1900-01-20T16:00:00+0805
发布日期：	1900-01-20T00:00:00+0805
申请号：	CN202010045109.2
公开号：	CN111208134A
分类号：	G01N21/84;G01N1/28;G01N1/32;G01N1/44;G;G01;G01N;G01N21;G01N1;G01N21/84;G01N1/28;G01N1/32;G01N1/44
申请人地址：	212013 江苏省镇江市京口区学府路301号
主权项：	1.一种计算动态再结晶体积分数的方法，其特征在于，具体步骤如下： S1、将原始试样加工成圆柱型试样； S2、选取加工参数，并使用热力模拟试验机对试样进行热压缩； S3、对变形后的试样沿压缩方向对半进行切割并对切割后试样进行机械打磨、金相腐蚀； S4使用金相显微镜对变形组织进行观察并拍照，通过Photoshop软件获取动态再结晶区域的像素，动态再结晶区域与照片的原始像素比即为试样动态再结晶体积分数。 2.如权利要求1所述的一种计算动态再结晶体积分数的方法，其特征在于，在所述步骤S1中，圆柱的尺寸为直径8mm，高度12mm。 3.如权利要求1所述的一种计算动态再结晶体积分数的方法，其特征在于，在所述步骤S2中，热压缩参数为：温度950-1100℃、应变速率0.01-1s-1、最大应变量为0.8。 4.如权利要求1或3所述的一种计算动态再结晶体积分数的方法，其特征在于，在所述步骤S2中，热压缩实验具体程序设定如下：首先将试样升温至1150℃后保温3min，设定加热速率为10℃/s，然后将试样以同样的速率降温至各变形温度950℃、1000℃、1050℃、1100℃，在各变形温度下保温30s以消除试样不同部位存在的温差，最后使试样分别以0.01s-1、0.1s-1、0.5s-1、1s-1的应变速率变形，应变量为0.8。 5.如权利要求1所述的一种计算动态再结晶体积分数的方法，其特征在于，在所述步骤S3中，将变形后试样沿压缩方向，即圆柱型试样的轴向切割，然后将切割后试样机械打磨至2000目，并选用30ml盐酸、120ml水、10g三氯化铁的混合溶液作为腐蚀剂。 6.如权利要求1所述的一种计算动态再结晶体积分数的方法，其特征在于，在上述步骤S4中，通过拍摄变形试样的金相显微照片，获取照片的像素，通过Photoshop(ps)软件获取动态再结晶区域的像素，已知DRX晶粒面积和光显微图像的像素数，则动态再结晶体积分数(Xdrx)可以通过公式:Xdrx＝Ndrx/Ntotal获取，其中Ndrx为DRX晶粒面积的像素数，Ntotal为光学显微图像的总像素数。 7.如权利要求6所述的一种计算动态再结晶体积分数的方法，其特征在于，在上述步骤S4中，Xdrx＝1-Ninitial/Ntotal；其中Ninitial是未被动态再结晶(DRX)晶粒代替的初始晶粒的像素个数；Ninitial和Ntotal的值能够使用Photoshop软件或其他图像分析软件观察组织形貌对动态再结晶区域与原始晶粒区域进行划分，蓝色部分为动态再结晶区域，黄色部分为原始晶粒区域。
所属类别：	发明专利