专利名称: |
基于斜入射光反射差法的透明电极电势实时监控装置及其方法 |
摘要: |
本发明公开了一种基于斜入射光反射差法的电极电势实时监控装置,包括用于发射出一束椭圆偏振的极化光的激光器,极化光依次经过光弹调制器和相移器,然后通过入射透镜按照预设入射角斜入射到透明电极表面;从透明电极表面返回的反射光经过偏振分析器,然后经过光电二极管转换成电压信号,两台所述锁相放大器采集电压信号中调制频率的基频分量信号和倍频分量信号,并输入到处理器进行处理。本发明提供的装置,利用斜入射光反射差技术对透明电极\溶液界面的电极电势进行实时监测,直接实时原位监控电极电势的变化,在扫描模式下可对整个电极表面的电势分布进行检测和成像,为电极表面电势的时空分辨测量提供了一种新型的方法。 |
专利类型: |
发明专利 |
申请人: |
西南大学 |
发明人: |
胡卫华;李玲 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
1900-01-20T17:00:00+0805 |
发布日期: |
1900-01-20T00:00:00+0805 |
申请号: |
CN202010053805.8 |
公开号: |
CN111208188A |
代理机构: |
重庆航图知识产权代理事务所(普通合伙) |
代理人: |
王贵君 |
分类号: |
G01N27/48;G01N21/21;G;G01;G01N;G01N27;G01N21;G01N27/48;G01N21/21 |
申请人地址: |
400715 重庆市北碚区天生路2号 |
主权项: |
1.基于斜入射光反射差法的电极电势实时监控装置,其特征在于:包括激光器、光弹调制器、相移器、入射透镜、电极、出射透镜、偏振分析器、光电二极管、锁相放大器和处理器; 所述激光器用于发射出一束椭圆偏振的极化光,所述极化光依次经过光弹调制器和相移器,然后通过入射透镜按照预设入射角斜入射到电极表面;从电极表面返回的反射光经过偏振分析器,然后经过光电二极管转换成电压信号; 两台所述锁相放大器采集电压信号中调制频率的基频分量信号和倍频分量信号,并输入到处理器进行处理。 2.如权利要求1所述的监控装置,其特征在于:所述电极表面设置于控制平台上,所述控制平台在控制作用下能沿水平移动。 3.如权利要求1所述的监控装置,其特征在于:所述入射透镜用于将相移器输出的光线汇聚到电极表面待监控区域。 4.如权利要求1所述的监控装置,其特征在于:所述出射透镜用于将从电极表面待监控区域发出的反射光汇聚到偏振分析器上。 5.如权利要求1所述的监控装置,其特征在于:所述电极表面为导电层表面、导电层和溶液界面。 6.基于斜入射光反射差法的透明电极电势实时监控方法,其特征在于:包括以下步骤: 激光器发射出一束椭圆偏振的极化光; 极化光经过光弹调制器的调制后经过相移器; 从相移器射出的光经过入射透镜聚焦按照预设入射角度斜入射到电极表面; 从电极表面反射的激光通过出射透镜后进入偏振分析器; 从偏振分析器射出的光经过光电二极管转换成电压信号; 由两台锁相放大器采集电压信号中调制频率的基频分量信号和倍频分量信号,并将基频分量信号和倍频分量信号输入到处理器进行处理,得到电极表面的电势分布信号。 7.如权利要求1所述的监控方法,其特征在于:所述电极设置于控制平台上,所述控制平台能沿水平移动。 8.如权利要求1所述的监控方法,其特征在于:所述入射透镜用于将相移器输出的光线汇聚到电极表面待监控区域。 9.如权利要求1所述的监控方法,其特征在于:所述出射透镜用于将从电极表面待监控区域发出的反射光汇聚到偏振分析器上。 10.如权利要求1所述的监控方法,其特征在于:所述电极为三电极体系中的电极或两电极体系中的电极。 |
所属类别: |
发明专利 |