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原文传递一种冷热冲击设备

专利名称：	一种冷热冲击设备
摘要：	本发明公开了一种冷热冲击设备，包括：底座；控制箱，固定在底座上，控制箱内设置有控制器；激发组件，固定在控制箱的侧面上部，激发组件进一步包括：用于连接测试光电学特性的光纤探头的激发器、激发器固定座，激发器固定安装在激发器固定座上，激发器内设置有芯片，激发器固定座内设置电源模块；冷热冲击箱，包括箱体和箱盖，箱体内设置有半导体制冷芯片、样品槽和金属块，料槽块上表面开设装有待测样品的样品槽，金属块设置在料槽块的下部，半导体制冷芯片一部分镶嵌在料槽块的下部，另一部分镶嵌在金属块的上部，半导体制冷芯片与控制器电连接；冷热冲击设备在测试状态下，样品槽在激发器的下方。该设备将变温和测试集中在同一设备上。
专利类型：	发明专利
申请人：	上海应用技术大学
发明人：	郑巧瑜;王旭飞;庞尔跃;邹军;石明明;王金瑞
专利状态：	有效
申请日期：	1900-01-20T09:00:00+0805
发布日期：	1900-01-20T22:00:00+0805
申请号：	CN202010157132.0
公开号：	CN111189733A
代理机构：	上海汉声知识产权代理有限公司
代理人：	胡晶
分类号：	G01N3/60;G01N21/64;G01R31/26;G;G01;G01N;G01R;G01N3;G01N21;G01R31;G01N3/60;G01N21/64;G01R31/26
申请人地址：	200235 上海市徐汇区漕宝路120-121号
主权项：	1.一种冷热冲击设备，其特征在于，包括：底座；控制箱，固定在所述底座上，所述控制箱内设置有控制器；激发组件，固定在所述控制箱的侧面上部，所述激发组件进一步包括：用于连接测试光电学特性的光纤探头的激发器、激发器固定座，所述激发器固定安装在所述激发器固定座上，所述激发器内设置有芯片，所述激发器固定座内设置电源模块，所述电源模块以使所述芯片激发发光；冷热冲击箱，包括箱体和箱盖，所述箱体内设置有半导体制冷芯片、料槽块和金属块，所述料槽块上表面开设装有待测样品的样品槽，所述金属块设置在所述料槽块的下部，所述半导体制冷芯片一部分镶嵌在所述料槽块的下部，另一部分镶嵌在所述金属块的上部，所述半导体制冷芯片与所述控制器电连接；所述冷热冲击设备在测试状态下，所述样品槽在所述激发器的下方。 2.根据权利要求1所述的冷热冲击设备，其特征在于，所述箱体进一步设置循环水管道，所述金属块内部开设U型槽，所述U型槽与所述循环水管道连接，且所述循环水管道连接外部水箱。 3.根据权利要求2所述的冷热冲击设备，其特征在于，所述金属块为纯铜块。 4.根据权利要求1所述的冷热冲击设备，其特征在于，所述样品槽内设置有温度感应器，所述温度感应器与所述控制器电连接。 5.根据权利要求4所述的冷热冲击设备，其特征在于，所述控制箱的外表面上设有一触摸显示屏，所述触摸显示屏用于调节所述半导体制冷芯片温度和显示样品槽内的实时温度。 6.根据权利要求1所述的冷热冲击设备，其特征在于，所述底座上设置有滑轨，所述冷热冲击箱体的底部设置与所述滑轨滑动连接的滑块。 7.根据权利要求1所述的冷热冲击设备，其特征在于，所述电源模块为移动电源。 8.根据权利要求1所述的冷热冲击设备，其特征在于，所述冷热冲击箱内样品槽的温度范围为-30℃-150℃。 9.根据权利要求1所述的冷热冲击设备，其特征在于，所述料槽块的周侧设置有隔热层。 10.根据权利要求1或9所述的冷热冲击设备，其特征在于，所述箱体内以所述样品槽为中心在所述样品槽的周围设置环氧树脂胶以实现密封，且在环氧树脂胶的上表面设置耐高温垫。
所属类别：	发明专利