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原文传递一种基于X射线的全角度无损检测装置

专利名称：	一种基于X射线的全角度无损检测装置
摘要：	本发明适用于探伤设备技术领域，尤其涉及一种基于X射线的全角度无损检测装置，包括机架，所述全角度无损检测装置还包括：透射机构，所述透射机构与机架固定连接，用于通过射线对待测零件同一检测点进行多角度成像；载物机构，所述载物机构设置在透射机构射线发射路径上并与机架固定连接，用于夹持待测零件并调整零件空间位置及旋转零件；保护机构，所述保护机构包覆设置在机架外围，用于屏蔽透射机构产生的射线。本发明实施例提供的一种基于X射线的全角度无损检测装置，通过载物机构根据透射机构产生射线的方向调整零件空间位置及空间姿态，实现对零件检测点的多角度透射检测，提高了零件探伤的准确性。
专利类型：	发明专利
申请人：	深圳市伟铭光电有限公司
发明人：	殷濛濛
专利状态：	有效
申请日期：	1900-01-20T18:00:00+0805
发布日期：	1900-01-20T00:00:00+0805
申请号：	CN202010191680.5
公开号：	CN111198197A
代理机构：	北京专赢专利代理有限公司
代理人：	于刚
分类号：	G01N23/04;G01N23/18;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/04;G01N23/18
申请人地址：	518101 广东省深圳市宝安区新桥街道新桥社区金元二路5号厂内楼房101
主权项：	1.一种基于X射线的全角度无损检测装置，包括机架，其特征在于，所述全角度无损检测装置还包括：透射机构，所述透射机构与机架固定连接，用于通过射线对待测零件同一检测点进行多角度成像；载物机构，所述载物机构设置在透射机构射线发射路径上并与机架固定连接，用于夹持待测零件并调整零件空间位置及旋转零件；保护机构，所述保护机构包覆设置在机架外围，用于屏蔽透射机构产生的射线。 2.根据权利要求1所述的一种基于X射线的全角度无损检测装置，其特征在于，所述透射机构包括：射线产生结构，所述射线产生结构固定在机架上，用于在多种角度产生穿透性射线；射线接收结构，所述射线接收结构位于射线产生结构对侧且与机架固定连接，用于接收射线并成像。 3.根据权利要求2所述的一种基于X射线的全角度无损检测装置，其特征在于，所述射线接收结构包括：转动组件，所述转动组件与机架固定连接，用于配合射线射线产生结构带动成像件绕射线源转动；成像件，所述成像件与转动组件固定连接，用于接收射线并成像。 4.根据权利要求1所述的一种基于X射线的全角度无损检测装置，其特征在于，所述载物机构包括：调整结构，所述调整结构与机架固定连接，用于放置待测零件和调整零件的空间位置；夹持结构，所述夹持结构与调整结构固定连接，用于夹持和带动零件转动；控制结构，所述控制结构设置在调整结构上，用于获取待测零件的空间位置信息并根据射线发射角度控制调整结构带动零件移动，使射线从不同角度照射在零件的同一位置。 5.根据权利要求4所述的一种基于X射线的全角度无损检测装置，其特征在于，所述调整结构包括：平移组件，所述平移组件与机架滑动连接，用于通过平移调整回转组件的空间位置；回转组件，所述回转组件与平移组件转动连接，用于带动零件回转。 6.根据权利要求5所述的一种基于X射线的全角度无损检测装置，其特征在于，所述平移组件包括：第一平移子组件，所述第一平移子组件与机架固定连接，用于带动第二平移子组件沿Z轴平移；第二平移子组件，所述第二平移子组件与第一平移子组件固定连接，用于带动第三平移子组件沿Y轴移动；第三平移子组件，所述第三平移子组件一侧与第二平移子组件固定连接，另一侧与回转组件固定连接，用于带动回转组件沿X轴移动。 7.根据权利要求5所述的一种基于X射线的全角度无损检测装置，其特征在于，所述X轴、Y轴和Z轴为以射线发射点为原点建立的坐标参考轴。 8.根据权利要求1所述的一种基于X射线的全角度无损检测装置，其特征在于，所述保护机构包括：隔离结构，所述隔离结构固定设置在机架外围，用于隔离屏蔽结构；屏蔽结构，所述屏蔽结构设置在隔离结构内部，用于屏蔽装置内部产生的射线辐射。
所属类别：	发明专利