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原文传递一种用于自动上样机械手测试的杜瓦结构

专利名称：	一种用于自动上样机械手测试的杜瓦结构
摘要：	本发明涉及一种用于自动上样机械手测试的杜瓦结构，包括：盆状结构的一杜瓦；放置于该杜瓦的底部的一支撑板结构，该支撑板结构包括一非磁性金属底板、至少一个长卡柱、至少一个短卡柱、至少一个鼓形磁性金属板、至少一个Puck磁性底座和至少一个Puck金属盖，该长卡柱和该短卡柱固定连接在该非磁性金属底板上，该鼓形磁性金属板固定镶嵌于该非磁性金属底板上，该Puck磁性底座和Puck金属盖固定连接形成一Puck，该Puck通过该长卡柱和短卡柱进行定位并借助于磁性吸附连接在该鼓形磁性金属板上。本发明的自动上样机械手测试的杜瓦结构，为机械手系统的调试提供了方便，并简化了取Puck的操作过程，解决了换样困难的问题。
专利类型：	发明专利
申请人：	中国科学院上海高等研究院
发明人：	李兆龙;孙波;郁峰;汪启胜
专利状态：	有效
申请日期：	1900-01-20T17:00:00+0805
发布日期：	1900-01-20T05:00:00+0805
申请号：	CN201911301870.1
公开号：	CN111103314A
代理机构：	上海智信专利代理有限公司
代理人：	宋丽荣
分类号：	G01N23/20008;G01N23/20025;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/20008;G01N23/20025
申请人地址：	201210 上海市浦东新区张江高科技园区海科路99号
主权项：	1.一种用于自动上样机械手测试的杜瓦结构，其特征在于，包括：盆状结构的一杜瓦；以及放置于该杜瓦的底部的一支撑板结构，该支撑板结构包括一非磁性金属底板、至少一个长卡柱、至少一个短卡柱、至少一个鼓形磁性金属板、至少一个Puck磁性底座和至少一个Puck金属盖，其中，该长卡柱和该短卡柱固定连接在该非磁性金属底板上，该鼓形磁性金属板固定镶嵌于该非磁性金属底板上，该Puck磁性底座和Puck金属盖固定连接形成一Puck，该Puck通过该长卡柱和短卡柱进行定位并借助于磁性吸附连接在该鼓形磁性金属板上。 2.根据权利要求1所述的杜瓦结构，其特征在于，该非磁性金属底板具有至少一个鼓形磁性板镶嵌槽，该鼓形磁性金属板固定镶嵌于该鼓形磁性板镶嵌槽内。 3.根据权利要求2所述的杜瓦结构，其特征在于，该非磁性金属底板在该鼓形磁性板镶嵌槽的槽外具有一长卡柱螺孔，该长卡柱的底部插入该长卡柱螺孔中以固定在该非磁性金属底板上，该Puck具有一半圆凹槽，该长卡柱的中部贴靠该半圆凹槽进行定位。 4.根据权利要求2所述的杜瓦结构，其特征在于，该非磁性金属底板在该鼓形磁性板镶嵌槽的槽内具有一短卡柱螺孔，该鼓形磁性金属板具有一短卡柱插孔，该短卡柱的底部插入该短卡柱螺孔中以固定在该非磁性金属底板上，该短卡柱的顶部从该短卡柱插孔中伸出，该Puck磁性底座具有一圆形穿孔，该短卡柱的顶部插入该圆形穿孔进行定位。 5.根据权利要求1所述的杜瓦结构，其特征在于，该Puck磁性底座具有金属卡片，该Puck金属盖具有固定卡槽，金属卡片插入固定卡槽以将该Puck金属盖卡接至该Puck磁性底座。 6.根据权利要求1所述的杜瓦结构，其特征在于，该Puck金属盖具有上样杆螺孔以便于螺纹连接上样杆。 7.根据权利要求1所述的杜瓦结构，其特征在于，该杜瓦结构还包括用于将该杜瓦固定于一调试平台上的一金属片支架。 8.根据权利要求7所述的杜瓦结构，其特征在于，该金属片支架由相互垂直的一水平片和一竖直片组成，仅该水平片被固定在该调试平台上。
所属类别：	发明专利