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原文传递一种X-光高吸收率探测系统及图像成像方法

专利名称：	一种X-光高吸收率探测系统及图像成像方法
摘要：	本发明公开一种X‑光高吸收率探测系统及图像成像方法，探测系统包括光源、荧光层、第一可见光传感器、第二可见光传感器、第一图像采集装置、第二图像采集装置及处理器，光源向荧光层方向发出X光，X光转可见光材料在X光子激发下产生向第一可见光传感器移动的第一可见光子及向第二可见光传感器移动的第二可见光子；第一图像采集装置用于基于第一可见光传感器采集的第一可见光子信号得到第一图像信号，第二图像采集装置基于第二可见光传感器采集的第二可见光子信号得到第二图像信号；处理器对两种图像信号进行加法运算得到X光图像信号。本发明提供的探测系统可提高X‑光的吸收，提高探测系统的灵敏度和DQE，进而降低X‑射线的使用剂量。
专利类型：	发明专利
申请人：	江苏康众数字医疗科技股份有限公司
发明人：	徐永;刘建强
专利状态：	有效
申请日期：	1900-01-20T19:00:00+0805
发布日期：	1900-01-20T10:00:00+0805
申请号：	CN201911315719.3
公开号：	CN110987982A
代理机构：	苏州创元专利商标事务所有限公司
代理人：	吴芳
分类号：	G01N23/04;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/04
申请人地址：	215028 江苏省苏州市工业园区星湖街218号生物纳米园A2楼、B3楼501室
主权项：	1.一种X-光高吸收率探测系统，其特征在于，包括光源(1)、荧光层(2)、设置在所述荧光层(2)上表面的第一可见光传感器(3)、设置在所述荧光层(2)下表面的第二可见光传感器(4)、与所述第一可见光传感器(3)连接的第一图像采集装置(5)、与所述第二可见光传感器(4)连接的第二图像采集装置(6)及与所述第一图像采集装置(5)和第二图像采集装置(6)均电连接的处理器(7)，所述光源(1)用于向荧光层(2)方向发出X光，所述X光穿过所述第一可见光传感器(3)后到达荧光层(2)，所述荧光层(2)包括X光转可见光材料，所述X光转可见光材料在X-光子激发下产生向所述第一可见光传感器(3)移动的第一可见光子以及向所述第二可见光传感器(4)移动的第二可见光子；所述第一图像采集装置(5)用于基于所述第一可见光传感器(3)采集的第一可见光子信号得到第一图像信号；所述第二图像采集装置(6)用于基于所述第二可见光传感器(4)采集的第二可见光子信号得到第二图像信号；所述处理器(7)用于对第一图像信号和第二图像信号进行加法运算，得到X光图像信号。 2.根据权利要求1所述的X-光高吸收率探测系统，其特征在于，所述X光转可见光材料为CsI或其他闪烁体。 3.根据权利要求1所述的X-光高吸收率探测系统，其特征在于，所述荧光层(2)的侧边设置有封装层(8)，所述封装层(8)包括X荧光的封装材料组成。 4.根据权利要求1所述的X-光高吸收率探测系统，其特征在于，所述封装材料的材质为铝薄膜和热熔胶。 5.根据权利要求1所述的X-光高吸收率探测系统，其特征在于，所述X-光高吸收率探测系统还包括与处理器(7)连接的显示组件。 6.根据权利要求5所述的X-光高吸收率探测系统，其特征在于，所述处理器(7)包括加法运算模块和数据转换模块，所述加法运算模块用于第一图像信号与第二图像信号进行CCD感光电荷数的加法运算，得到用于X光图像，并输出所述X光图像的电信号；所述数据转换模块用于将电信号转换为显示组件能够显示的数据格式。 7.一种X-光高吸收率探测系统的图像成像方法，其特征在于，包括如下步骤： S1、利用光源向荧光层方向发出X光，所述荧光层的X光转可见光材料在X-光子激发下产生向上移动的第一光子以及向下移动的第二光子； S2、利用第一光传感器采集第一光子信号，利用第二光传感器采集第二光子信号； S3、利用第一图像采集装置基于第一光传感器采集的第一光子信号得到第一图像信号；利用第二图像采集装置基于第二光传感器采集的第二光子信号得到第二图像信号； S4、利用处理器对步骤S3中的所述第一图像信号与所述第二图像信号进行图像加法运算，合成得到X光图像信号。 8.根据权利要求7所述的X-光高吸收率探测系统的图像成像方法，其特征在于，在步骤S1中，所述第一光传感器为第一可见光传感器，所述第二光传感器为第二可见光传感器；所述第一可见光传感器设置在荧光层的上表面，所述第二可见光传感器设置在荧光层的下表面，所述X光穿过所述第一可见光传感器后到达荧光层。 9.根据权利要求7所述的X-光高吸收率探测系统的图像成像方法，其特征在于，所述第一图像信号包括各个像素位置的CCD感光电荷数，所述第二图像信号包括各个像素位置的CCD感光电荷数，所述图像加法运算包括CCD感光电荷数的加法运算。 10.根据权利要求7所述的X-光高吸收率探测系统的图像成像方法，其特征在于，由权利要求1-6中任意一项所述的X-光高吸收率探测系统执行。
所属类别：	发明专利