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原文传递一种岩石光谱二向性测量装置及其测量方法

专利名称：	一种岩石光谱二向性测量装置及其测量方法
摘要：	本发明属于遥感技术领域，具体涉及一种岩石光谱二向性测量装置及其测量方法，包括光源、固定平台、半圆龙骨A、旋转平台、半圆龙骨B、标尺A、标尺B、探头和岩石放置框；所述半圆龙骨A的两端垂直固定在固定平台的上表面，所述半圆龙骨B的两端垂直固定在旋转平台的上表面上，岩石放置框固定在旋转平台的圆心处，所述半圆龙骨B上设置有标尺A，标尺A上安装有光源；所述半圆龙骨A上设置有标尺B，标尺B上安装有探头；所述旋转平台同心内套在固定平台内。
专利类型：	发明专利
申请人：	核工业北京地质研究院
发明人：	陈雪娇;潘蔚;田青林;余长发;唐义
专利状态：	有效
申请日期：	1900-01-20T20:00:00+0805
发布日期：	1900-01-20T17:00:00+0805
申请号：	CN201911326850.X
公开号：	CN111024625A
代理机构：	核工业专利中心
代理人：	王婷
分类号：	G01N21/25;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/25
申请人地址：	100029 北京市朝阳区小关东里十号院
主权项：	1.一种岩石光谱二向性测量装置，其特征在于：包括光源(1)、固定平台(8)、半圆龙骨A(2)、旋转平台(9)、半圆龙骨B(3)、标尺A(4)、标尺B(7)、探头(5)和岩石放置框(6)；所述半圆龙骨A(2)的两端垂直固定在固定平台(8)的上表面，所述半圆龙骨B(3)的两端垂直固定在旋转平台(9)的上表面上，岩石放置框(6)固定在旋转平台(9)的圆心处，所述半圆龙骨B(3)上设置有标尺A(4)，标尺A(4)上安装有光源(1)；所述半圆龙骨A(2)上设置有标尺B(7)，标尺B(7)上安装有探头(5)；所述旋转平台(9)同心内套在固定平台(8)内。 2.根据权利要求1所述的一种岩石光谱二向性测量装置，其特征在于：所述标尺(4)与半圆龙骨B(3)之间以及标尺B(7)与半圆龙骨A(2)之间均设置有连接件用于连接；所述标尺(4)和标尺B(7)均指向旋转平台(9)圆心处，通过连接件实现光源和探头相对于旋转平台(9)中心的小范围距离调整。 3.根据权利要求2所述的一种岩石光谱二向性测量装置，其特征在于：所述固定平台(8)整体均为圆环结构，固定平台(8)的上表面上表刻有0～360°刻度圆，0°和180°标刻位置分别对应半圆龙骨A(2)的两端与固定平台(8)上表面固定连接的位置；半圆龙骨A(2)和半圆龙骨B(3)上表面上标刻有角度刻度；半圆龙骨A(2)和半圆龙骨B(3)上的中点位置刻度均为0°，半圆龙骨A(2)和半圆龙骨B(3)的中点位置的两侧均标刻有0～90°，刻度精度为1°，估算精度为0.1°；所述半圆龙骨A(2)和和半圆龙骨B(3)的圆心和刻度圆圆心重合。 4.根据权利要求3所述的一种岩石光谱二向性测量装置，其特征在于：所述旋转平台(9)整体为圆盘结构，所述旋转平台(9)的外径与固定平台(8)的内径相匹配；且固定平台(8)和旋转平台(9)圆心同轴连接，所述旋转平台(9)在固定平台(8)内水平旋转；所述固定平台(8)上的刻度圆围绕旋转平台(9)标刻；所述旋转平台(9)上表面刻有指针，用于指示旋转平台(9)与半圆龙骨B(3)同固定平台(8)及半圆龙骨A(2)之间的刻度圆方位角。 5.根据权利要求4所述的一种岩石光谱二向性测量装置，其特征在于：所述连接件分别套装在半圆龙骨A(2)和半圆龙骨B(3)上，并可沿半圆龙骨A(2)和半圆龙骨B(3)的圆弧表面移动，所述连接件放置在其所在半圆龙骨上的圆弧角度刻度位置即表示其相对于旋转平台(9)圆心的方位角。 6.根据权利要求5所述的一种岩石光谱二向性测量装置，其特征在于：所述岩石放置框(6)还包括：俯仰旋转电机和夹持框，夹持框安装在俯仰旋转电机上，能够实现岩石的俯仰旋转。 7.根据权利要求6所述的一种岩石光谱二向性测量装置，其特征在于：所述光源(1)为平行光源。 8.如上所述权利要求1至7中任一所述岩石光谱二向性测量装置的测量方法，其特征在于包括如下步骤：步骤一：将光源(1)和探头(2)固定到对应的连接件及标尺上，将合适大小的岩石放在岩石放置框(6)上并夹紧；步骤二：接通电源对光源(1)进行预热，打开地面光谱仪及控制计算机，在暗室中关闭室内光源即进行岩石光谱测量；步骤三：通过俯仰旋转电机调整岩石的俯仰角度；通过移动固定光源的连接件及两个标尺，调整光源的入射角度和距离；通过移动探头(5)的连接件及标尺，可调整测量的角度和距离；通过转动旋转平台(9)，调整光源和探头(5)所在平面的夹角；通过步骤三中组合调节方式，获得岩石在任意角度的入射光照下，在不同方向和距离的反射光谱，用以对岩石的光谱二向性进行深入研究。
所属类别：	发明专利