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基于扫描电镜-拉曼技术原位鉴定固体表面纳米塑料颗粒的方法
| 专利名称： | 基于扫描电镜-拉曼技术原位鉴定固体表面纳米塑料颗粒的方法 |
| 摘要： | 本发明属于纳米塑料鉴定领域，公开了基于扫描电镜‑拉曼技术原位鉴定固体表面纳米塑料颗粒的方法，在确保纳米塑料有机结构不被损坏的前提下，通过扫描电子显微镜和含白光共聚焦显微拉曼光谱联用仪进行参数设定和测试，包括对待检测固体样品表面低电压电子束条件下采用扫描电子显微镜靶向识别其存在的纳米颗粒；和共聚焦显微拉曼光谱原位鉴定上述识别的纳米颗粒是否为纳米塑料的步骤，最小鉴定尺寸为360nm，并实时鉴定出纳米颗粒是否含有塑料成分。本发明可以实现对单个纳米级颗粒化学成分的原位鉴定，同时确保纳米颗粒的塑性结构不被电子束损坏。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 申请人： | 同济大学 |
| 发明人： | 邱宇平;张文;董志强;侯元璋 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 1900-01-20T00:00:00+0805 |
| 发布日期： | 1900-01-20T08:00:00+0805 |
| 申请号： | CN201911356196.7 |
| 公开号： | CN111122633A |
| 代理机构： | 上海伯瑞杰知识产权代理有限公司 |
| 代理人： | 周一新;胡永宏 |
| 分类号： | G01N23/2251;G01N21/65;G;G01;G01N;G01N23;G01N21;G01N23/2251;G01N21/65 |
| 申请人地址： | 200000 上海市杨浦区四平路1239号 |
| 主权项： | 1.基于扫描电镜-拉曼技术原位鉴定固体表面纳米塑料颗粒的方法，其特征在于，通过扫描电子显微镜和含白光共聚焦显微拉曼光谱联用仪进行参数设定和测试，包括对待检测固体样品采用 (1)所述扫描电子显微镜靶向识别其表面存在的纳米颗粒；和 (2)所述共聚焦显微拉曼光谱原位鉴定上述识别的纳米颗粒是否为纳米塑料的步骤。 2.根据权利要求1所述原位鉴定固体表面纳米塑料颗粒的方法，其特征在于，所述待检测固体样品的制样方法为：导电胶粘贴于铜或铝的样品座，再将待检测固体粘贴到上述导电胶上，并吹扫掉所述导电胶上未粘紧的固体样品后得到。 3.根据权利要求1所述原位鉴定固体表面纳米塑料颗粒的方法，其特征在于，所述扫描电子显微镜的测试参数包括：放大倍数为100倍、样品电流为0.75NA、所述扫描电子显微镜的光学镜头和待检测样品表面的距离为4mm，和加速电压为1～3kV。 4.根据权利要求1所述原位鉴定固体表面纳米塑料颗粒的方法，其特征在于，所述共聚焦显微拉曼光谱的测试参数包括：空间分辨率为360nm、光谱分辨率为1cm-1、扫描范围为250×250×250μm、激光波长为532nm或785nm、激光功率为5～10mW、采集时间为5～10s，和积分次数为2～5次。 5.根据权利要求1所述原位鉴定固体表面纳米塑料颗粒的方法，其特征在于，所述待检测固体样品形状包括块状、层状、片状、薄膜装、线状、颗粒状、粉末状或无定型状中的一种。 6.根据权利要求1所述原位鉴定固体表面纳米塑料颗粒的方法，其特征在于，所述纳米颗粒的粒径范围为360～1000nm。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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