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原文传递 一种用于微机电系统监测的光纤探针
专利名称: 一种用于微机电系统监测的光纤探针
摘要: 本发明提供的是一种用于微机电系统监测的光纤探针。其特征是:它由单模光纤1,大芯径渐变折射率光纤2,二元菲涅尔透镜3,待测物4,位移台5,光源6,三端口环形器7,光功率计8,计算机9组成。本发明可用于微机电系统的便携、非接触式无损监测,可广泛用于光纤传感等领域。
专利类型: 发明专利
申请人: 桂林电子科技大学
发明人: 苑立波;杜佳豪
专利状态: 有效
申请日期: 1900-01-20T00:00:00+0805
发布日期: 1900-01-20T01:00:00+0805
申请号: CN201911377636.7
公开号: CN111089844A
分类号: G01N21/25;G01N21/01;G01M11/00;G02B6/25;G02B6/42;G;G01;G02;G01N;G01M;G02B;G01N21;G01M11;G02B6;G01N21/25;G01N21/01;G01M11/00;G02B6/25;G02B6/42
申请人地址: 541004 广西壮族自治区桂林市桂林金鸡路1号
主权项: 1.一种用于微机电系统监测的光纤探针,其特征是:它由单模光纤1,大芯径渐变折射率光纤2,二元菲涅尔透镜3,待测物4,位移台5,光源6,三端口环形器7,光功率计8,计算机9组成。所述的系统中光源6发出的光由环形器1#端口进入三端口环形器7,环形器2#端口输出光信号通过单模光纤1和大芯径渐变折射率光纤2进入二元菲涅尔透镜3。由于二元菲涅尔透镜3入射光有沿轴向色散的作用,光束通过二元菲涅尔透镜3会在透镜后的光轴处会聚成点。将被测物体4放在二元菲涅尔透镜3下的空间轴向位置,被测物体4可以通过位移台5改变其位置。光束照到被测物体4表面时会发生反射,被反射的信号经环形器2#端口进入三端口环形器7,从环形器3#端口输出,并由光功率计8接收。光功率计8接收到的数据传至计算机9监测处理。 2.根据权利要求1所述的一种用于微机电系统监测的光纤探针,其特征是,大芯径渐变折射率光纤2也可以是无芯光纤。 3.根据权利要求1所述的一种用于微机电系统监测的光纤探针,其特征是,二元菲涅尔透镜3也可以是二元达曼光栅、闪耀光栅或阵列光栅。 4.根据权利要求1所述的一种用于微机电系统监测的光纤探针,其特征是,二元菲涅尔透镜3由飞秒激光微加工系统在大芯径渐变折射率光纤2纤芯端加工而成。 5.根据权利要求1所述的一种用于微机电系统监测的光纤探针,其特征是,二元菲涅尔透镜3的偶数环带刻蚀深度为0.56μm。
所属类别: 发明专利
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