专利名称: |
一种钙结岩密度的测量方法 |
摘要: |
本发明属于矿产勘探技术领域,具体公开一种测量钙结岩密度的方法,步骤S1:对矿区内浅井进行地质和物探编录,在井壁上标记出采集钙结岩密度样品的位置;步骤S2:在钙结岩密度样品的采集位置,放置用水平规整的板作,为取样的位置间隔;步骤S3:沿上述标记自上而下刻凿,切割出钙结岩密度样品;步骤S4:称出切割出的钙结岩密度样品的重量M;步骤S5:根据钙结岩密度样品的重量,计算出钙结岩密度样品的密度;步骤S6:根据矿床规模大小,重复步骤S1至S5采集钙结岩样品和进行钙结岩密度样品密度测量求取平均值,即为该矿床中钙结岩的密度。本发明的方法能够快速、准确的测得钙结岩密度,节约时间和成本,为矿产资源量估算提供可靠有效的密度数据。 |
专利类型: |
发明专利 |
申请人: |
核工业北京地质研究院 |
发明人: |
陈金勇;范洪海;张闯;张康;王生云 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
1900-01-20T00:00:00+0805 |
发布日期: |
1900-01-20T21:00:00+0805 |
申请号: |
CN201911390220.9 |
公开号: |
CN111044406A |
代理机构: |
核工业专利中心 |
代理人: |
闫兆梅 |
分类号: |
G01N9/02;G01V5/00;G;G01;G01N;G01V;G01N9;G01V5;G01N9/02;G01V5/00 |
申请人地址: |
100029 北京市朝阳区小关东里十号院 |
主权项: |
1.一种钙结岩密度测量方法,其特征在于:该方法具体包括以下步骤: 步骤S1:对矿区内浅井进行地质和物探编录,在井壁上标记出采集钙结岩密度样品的位置; 步骤S2:在上述步骤S1中的钙结岩密度样品的采集位置,放置用水平规整的板作,为取样的位置间隔; 步骤S3:沿上述步骤S1中的标记自上而下刻凿,切割出钙结岩密度样品; 步骤S4:称出上述步骤S3中的切割出的钙结岩密度样品的重量M; 步骤S5:根据上述步骤S4中得到的钙结岩密度样品的重量M,计算出钙结岩密度样品的密度ρ; 步骤S6:根据矿床规模大小,重复步骤S1至S5采集钙结岩样品和进行钙结岩密度样品密度测量求取平均值,即为该矿床中钙结岩的密度。 2.根据权利要求1所述的一种钙结岩密度测量方法,其特征在于:所述的步骤S1中在井壁上用标记出正方形作为钙结岩密度样品的采集位置。 3.根据权利要求2所述的一种钙结岩密度测量方法,其特征在于:所述的步骤S2中在水平规整板为硬纸板或木板,并在、硬纸板或木板覆盖一层厚的塑料片用于接收样品。 4.根据权利要求3所述的一种钙结岩密度测量方法,其特征在于:所述的步骤S3中用凿子和锤子刻凿,并切割出一个正立方体钙结岩密度样品。 5.根据权利要求4所述的一种钙结岩密度测量方法,其特征在于:所述的步骤4中的钙结岩样品的密度ρ=M/V。 6.根据权利要求5所述的一种钙结岩密度测量方法,其特征在于:所述的步骤6中不同规模的矿床采集的钙结岩密度样品的数量不同。 7.根据权利要求6所述的一种钙结岩密度测量方法,其特征在于:所述的步骤6中小型矿床采集的钙结岩密度样品超过30个即可,中型矿床采集的钙结岩密度样品需超过50个,大型矿床采集的钙结岩密度样品则要超过100个。 |
所属类别: |
发明专利 |