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原文传递 COB双站测试方法及装置

专利名称：	COB双站测试方法及装置
摘要：	一种COB双站测试方法及装置，其中，测试方法包括：将COB材料移动到第一检测位置，COB材料的一部分区域遮挡，COB材料的未被遮挡部分被点亮，测试COB材料未被遮挡的区域；测试完成后，将COB材料移动到第二检测位置，COB材料的被第一测试结构测试过的部分区域遮挡，COB材料的未被遮挡的部分被点亮，测试所述COB材料未被遮挡的区域。本发明由于采用了双站测试，第一次测试COB材料的一部分区域，第二次测试COB材料的另一部分区域，通过两次测试，从而完成对整个COB材料的测试，具有不需要平凡清理玻璃片、不会出现误判和不会影响COB材料的筛选。
专利类型：	发明专利
申请人：	深圳市标谱半导体科技有限公司
发明人：	段雄斌;雄亚俊;席松涛
专利状态：	有效
申请日期：	1900-01-20T00:00:00+0805
发布日期：	1900-01-20T10:00:00+0805
申请号：	CN201911407154.1
公开号：	CN110987831A
代理机构：	深圳市金笔知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人：	胡清方;彭友华
分类号：	G01N21/25;G01N21/01;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/25;G01N21/01
申请人地址：	518000 广东省深圳市宝安区西乡街道茶西三围第二工业区B区9、10楼
主权项：	1.一种COB双站测试方法，其特征在于，包括如下步骤：将COB材料移动到第一检测位置，所述COB材料的一部分区域遮挡，所述COB材料的未被遮挡部分被点亮，测试所述COB材料未被遮挡的区域；测试完成后，将所述COB材料移动到第二检测位置，所述COB材料的被第一测试结构测试过的部分区域遮挡，所述COB材料的未被遮挡的部分被点亮，测试所述COB材料未被遮挡的区域。 2.根据权利要求1所述的COB双站测试方法，其特征在于：所述COB材料沿着直线从所述第一检测位置移动所述第二检测位置。 3.根据权利要求2所述的COB双站测试方法，其特征在于：在所述第一检测位置和所述第二检测位置上，所述COB材料的放置方向未改变，遮挡所述COB材料的位置改变。 4.根据权利要求1所述的COB双站测试方法，其特征在于：所述COB材料沿着曲线从所述第一检测位置移动所述第二检测位置。 5.根据权利要求4所述的COB双站测试方法，其特征在于：在所述第一检测位置和所述第二检测位置上，所述COB材料的放置方向未改变，遮挡所述COB材料的位置改变；或者，所述COB材料的放置方向改变，遮挡所述COB材料的位置未改变。 6.一种COB双站测试装置，其特征在于，包括：移动结构、压制结构、第一测试结构和第二测试结构，所述移动结构将COB材料移动到第一检测位置，所述压制结构将所述COB材料的一部分区域遮挡，所述COB材料的未被遮挡部分被点亮，所述第一测试结构测试所述COB材料未被遮挡的区域；测试完成后，所述移动结构将所述COB材料移动到第二检测位置，所述压制结构将所述COB材料的被第一测试结构测试过的部分区域遮挡，所述COB材料的未被遮挡的部分被点亮，所述第二测试结构测试所述COB材料未被遮挡的区域。 7.根据权利要求6所述的COB双站测试装置，其特征在于：所述移动结构的运输轨迹为直线形，所述移动结构将所述COB材料沿着直线从所述第一检测位置移动所述第二检测位置。 8.根据权利要求6所述的COB双站测试装置，其特征在于：所述移动结构的运输轨迹为弧形，所述移动结构将所述COB材料沿着弧线从所述第一检测位置移动所述第二检测位置。 9.根据权利要求8所述的COB双站测试装置，其特征在于：所述移动结构是碟片转动结构，所述COB材料被放置在所述碟片转动结构上移动。 10.根据权利要求6所述的COB双站测试装置，其特征在于：在所述压制结构上设置有第一测试孔，所述第一测试孔位于所述第一检测位置上，所述第一测试孔的四周结构遮挡所述COB材料的一部分区域，所述COB材料的另一部分区域对应所述第一测试孔；在所述压制结构上设置有第二测试孔，所述第二测试孔位于所述第二检测位置上，所述第二测试孔的四周结构遮挡所述COB材料的另一部分区域，所述COB材料的一部分区域对应所述第二测试孔。
所属类别：	发明专利