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原文传递分路不良轨道测试装置

专利名称：	分路不良轨道测试装置
摘要：	本发明属于轨道电路技术领域，涉及一种分路不良轨道测试装置，包括平台及固定于平台上的分路不良测试柜，分路不良测试柜的顶面设置显示器，分路不良测试柜腔体中安装直流电源、单片机、无线传输器、电流传感器，单片机上锡焊电压传感器；平台的底面转动设置前轴、后轴，前轴轴向两端分别设置前导电滑环，后轴的轴向两端分别设置后导电滑环，直流电源正极引出的导线与后轴的右侧的后导电滑环相连，直流电源负极引出的导线经由电流传感器与后轴的左侧的后导电滑环相连，以测量出整个回路中的电流。该测试装置改变传统的人工检测的方式，有效减轻工人劳动强度，能加快分路不良问题的解决效率，并将数据实时显示与保存。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	江苏;32
申请人：	江南大学
发明人：	任志俊;戚呈辉;杜小虎
专利状态：	在审
申请日期：	2020-10-27T00:00:00+0800
发布日期：	2021-02-05T00:00:00+0800
申请号：	CN202011163740.9
公开号：	CN112319542A
代理机构：	无锡市大为专利商标事务所(普通合伙)
代理人：	殷红梅
分类号：	B61K9/08;G01R27/20;B;G;B61;G01;B61K;G01R;B61K9;G01R27;B61K9/08;G01R27/20
申请人地址：	214122 江苏省无锡市滨湖区蠡湖大道1800号
所属类别：	发明专利