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原文传递获取束缚水饱和度的方法、装置、电子设备及介质

专利名称：	获取束缚水饱和度的方法、装置、电子设备及介质
摘要：	本申请公开了一种获取束缚水饱和度的方法、装置、电子设备及介质。该方法可以包括：建立汞饱和度中值压力与岩心渗透率的拟合关系；根据拟合关系，确定储层的渗透率下限值；根据渗透率下限值，确定临界压汞压力；计算临界压汞压力的进汞饱和度，进而确定束缚水饱和度；结合地质概念，对样本点进行层位分析，分层段建立不同层位的束缚水饱和度计算模型。本发明根据汞饱和度中值压力和岩心渗透率的拟合关系，通过求取曲线关系的突变点获取束缚水饱和度的方法，解决了仅依靠流动孔喉下限经验值造成束缚水饱和度计算不准的问题，原理通俗易懂，成本低，易于实施，覆盖范围广，可操作性强，取得了良好的应用效果，应用前景十分广阔。
专利类型：	发明专利
申请人：	中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院
发明人：	魏修平;魏水建;王丹丹;郑文波;刘国萍
专利状态：	有效
申请日期：	2020-09-15T00:00:00+0800
发布日期：	2022-03-15T00:00:00+0800
申请号：	CN202010968277.9
公开号：	CN114184529A
代理机构：	北京思创毕升专利事务所
代理人：	孙向民;廉莉莉
分类号：	G01N15/08;G;G01;G01N;G01N15;G01N15/08
申请人地址：	100027 北京市朝阳区朝阳门北大街22号;
主权项：	1.一种获取束缚水饱和度的方法，其特征在于，包括：建立汞饱和度中值压力与岩心渗透率的拟合关系；根据所述拟合关系，确定储层的渗透率下限值；根据所述渗透率下限值，确定临界压汞压力；计算所述临界压汞压力的进汞饱和度，进而确定束缚水饱和度；结合地质概念，对样本点进行层位分析，分层段建立不同层位的束缚水饱和度计算模型。 2.根据权利要求1所述的获取束缚水饱和度的方法，其中，根据所述拟合关系，确定储层的渗透率下限值包括：根据所述拟合关系，确定曲率方程；计算所述曲率方程的最大值，将对应的曲率值记为储层的渗透率下限值。 3.根据权利要求2所述的获取束缚水饱和度的方法，其中，计算所述曲率方程的最大值包括：计算所述曲率方程的一阶导数，令一阶导数为零，获得曲率方程的最大值。 4.根据权利要求1所述的获取束缚水饱和度的方法，其中，根据所述渗透率下限值，确定临界压汞压力包括：将所述渗透率下限值代入所述拟合关系中，得到的压力值即为所述临界压汞压力。 5.根据权利要求1所述的获取束缚水饱和度的方法，其中，计算所述临界压汞压力的进汞饱和度，进而确定束缚水饱和度包括：建立进汞压力与进汞饱和度的关系，采用二次插值法计算所述临界压汞压力对应的进汞饱和度，其相应的含水饱和度即为束缚水饱和度。 6.根据权利要求5所述的获取束缚水饱和度的方法，其中，总饱和度100％减去进汞饱和度即为相应的含水饱和度。 7.一种获取束缚水饱和度的装置，其特征在于，包括：拟合模块，建立汞饱和度中值压力与岩心渗透率的拟合关系；渗透率下限值确定模块，根据所述拟合关系，确定储层的渗透率下限值；临界压汞压力确定模块，根据所述渗透率下限值，确定临界压汞压力；束缚水饱和度确定模块，计算所述临界压汞压力的进汞饱和度，进而确定束缚水饱和度；模型建立模块，结合地质概念，对样本点进行层位分析，分层段建立不同层位的束缚水饱和度计算模型。 8.根据权利要求7所述的获取束缚水饱和度的装置，其中，根据所述拟合关系，确定储层的渗透率下限值包括：根据所述拟合关系，确定曲率方程；计算所述曲率方程的最大值，将对应的曲率值记为储层的渗透率下限值。 9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：存储器，存储有可执行指令；处理器，所述处理器运行所述存储器中的所述可执行指令，以实现权利要求1-6中任一项所述的获取束缚水饱和度的方法。 10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，该计算机可读存储介质存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-6中任一项所述的获取束缚水饱和度的方法。
所属类别：	发明专利