专利名称: |
一种碳酸盐岩储层孔隙度计算的校正方法 |
摘要: |
本申请提供了一种碳酸盐岩储层孔隙度的校正方法,包括以下步骤:S1:获取不同溶蚀等级的中子孔隙度校正量;S2:判断不同溶蚀等级的溶蚀孔是否发育,若是,则利用所述不同溶蚀等级的中子孔隙度校正量对不同溶蚀等级的碳酸盐岩储层孔隙度进行校正,若否,则不对所述碳酸盐岩储层孔隙度进行校正。本申请通过直接寻找不同溶蚀等级与中子孔隙度校正量之间的关系,提升了碳酸盐岩储层孔隙度的校正精度,提高了碳酸盐岩储层岩气藏储量评估的精度,为此类气藏开发提供了更为准确的依据。 |
专利类型: |
发明专利 |
申请人: |
中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油工程技术研究院 |
发明人: |
刘双莲 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2020-08-27T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2022-03-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN202010879563.8 |
公开号: |
CN114112829A |
代理机构: |
北京聿宏知识产权代理有限公司 |
代理人: |
吴大建;张高洁 |
分类号: |
G01N15/08;E21B49/00;G;E;G01;E21;G01N;E21B;G01N15;E21B49;G01N15/08;E21B49/00 |
申请人地址: |
100728 北京市朝阳区朝阳门北大街22号; |
主权项: |
1.一种碳酸盐岩储层孔隙度的校正方法,其特征在于,包括以下步骤: S1:获取不同溶蚀等级的中子孔隙度校正量; S2:判断不同溶蚀等级的溶蚀孔是否发育,若是,则利用所述不同溶蚀等级的中子孔隙度校正量对不同溶蚀等级的碳酸盐岩储层孔隙度进行校正,若否,则不对所述碳酸盐岩储层孔隙度进行校正。 2.根据权利要求1所述的碳酸盐岩储层孔隙度的校正方法,其特征在于,步骤S1包括: S11:对不同溶蚀等级的碳酸盐岩储层含气段的岩心进行分析,获取不同溶蚀等级的岩心分析孔隙度值; S12:根据不同溶蚀等级的所述岩心分析孔隙度值分别反算不同溶蚀等级的中子孔隙度校正量; S13:判断不同溶蚀等级的所述岩心分析孔隙度值与基准孔隙度值是否吻合,若是,则执行步骤S14,若否,则执行步骤S15; S14:确定不同溶蚀等级的所述中子孔隙度校正量; S15:返回步骤S12。 3.根据权利要求2所述的碳酸盐岩储层孔隙度的校正方法,其特征在于,所述基准孔隙度值为对碳酸盐岩储层水层或干层处的岩心进行密度-中子交会计算得到的。 4.根据权利要求3所述的碳酸盐岩储层孔隙度的校正方法,其特征在于,步骤S2中,判断不同溶蚀等级的溶蚀孔是否发育时,以岩性、溶蚀及含气与所述中子孔隙度值、密度孔隙度值及声波孔隙度值的关系为依据。 5.根据权利要求4所述的碳酸盐岩储层孔隙度的校正方法,其特征在于,判断不同溶蚀等级的溶蚀孔是否发育具体包括: S21:分别将不同溶蚀等级的碳酸盐岩储层含气段的中子曲线、密度曲线及声波曲线转换为中子孔隙度值、密度孔隙度值和声波孔隙度值; S22:将不同溶蚀等级的所述中子孔隙度值、密度孔隙度值和声波孔隙度值分别与对应溶蚀等级的所述岩心分析孔隙度值进行比较,根据比较结果判断不同溶蚀等级的所述溶蚀孔是否发育。 6.根据权利要求5所述的碳酸盐岩储层孔隙度的校正方法,其特征在于,步骤S22具体包括: 若岩心分析孔隙度值大于阈值,所述密度孔隙度值、中子孔隙度值和声波孔隙度值依次减小,且所述密度孔隙度值与所述岩心分析孔隙度值最接近,则判断所述溶蚀孔发育; 若岩心分析孔隙度值不大于阈值,所述中子孔隙度值不小于所述岩心分析孔隙度值、所述密度孔隙度值大于所述岩心分析孔隙度值,且所述声波孔隙度值与所述岩心分析孔隙度值最接近,则判断所述溶蚀孔不发育。 7.根据权利要求6所述的碳酸盐岩储层孔隙度的校正方法,其特征在于,所述阈值小于10%。 8.根据权利要求6或7所述的碳酸盐岩储层孔隙度的校正方法,其特征在于,步骤S12中,根据所述岩心分析孔隙度值反算中子孔隙度校正量时,以所述阈值为界限或者以岩性、溶蚀及含气与所述中子孔隙度值、密度孔隙度值及声波孔隙度值的关系为依据。 9.根据权利要求5-7任一项所述的碳酸盐岩储层孔隙度的校正方法,其特征在于,步骤S12中,判断不同溶蚀等级的溶蚀孔是否发育时,去除扩径因素的干扰。 |
所属类别: |
发明专利 |