专利名称: |
一种屏幕表面裂纹的检测方法及其应用 |
摘要: |
本发明提供了一种屏幕表面裂纹的检测方法及其应用,所述检测方法包括以下步骤:将待测样品表面清洗干燥,之后进行等离子表面处理,得到处理后样品,之后将处理后样品浸入荧光分子溶液中,接着取出、清洗、干燥,之后观察样品,记录荧光区域,即为裂纹区域。本发明提供的检测方法能够有效检测屏幕表面的细微裂纹,避免了常规检测方法中对于细微裂纹的遗漏造成的误判,提高了检测的准确性。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
江苏;32 |
申请人: |
胜科纳米(苏州)股份有限公司 |
发明人: |
刘凌霄;杨慧;杨凌;乔明胜;李晓旻 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2022-09-06T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2022-12-09T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN202211083171.6 |
公开号: |
CN115452851A |
代理机构: |
北京品源专利代理有限公司 |
代理人: |
王艳斋 |
分类号: |
G01N21/91;G01N21/64;G01N21/01;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/91;G01N21/64;G01N21/01 |
申请人地址: |
215124 江苏省苏州市苏州工业园区金鸡湖大道99号苏州纳米城西北区09栋507室 |
主权项: |
1.一种屏幕表面裂纹的检测方法,其特征在于,所述检测方法包括以下步骤: 将待测样品表面清洗干燥,之后进行等离子表面处理,得到处理后样品,之后将处理后样品浸入荧光分子溶液中,接着取出、清洗、干燥,之后观察样品,记录荧光区域,即为裂纹区域。 2.根据权利要求1所述的屏幕表面裂纹的检测方法,其特征在于,所述等离子表面处理使用的气体为氧气。 3.根据权利要求2所述的屏幕表面裂纹的检测方法,其特征在于,所述氧气的体积流量为90-120sccm。 4.根据权利要求3所述的屏幕表面裂纹的检测方法,其特征在于,所述氧气的体积流量为105-115sccm。 5.根据权利要求1所述的屏幕表面裂纹的检测方法,其特征在于,所述等离子表面处理的功率为20-50W。 6.根据权利要求1所述的屏幕表面裂纹的检测方法,其特征在于,所述等离子表面处理的时间为5-30s。 7.根据权利要求1所述的屏幕表面裂纹的检测方法,其特征在于,所述荧光分子溶液的浓度为10-500ppm。 8.根据权利要求1所述的屏幕表面裂纹的检测方法,其特征在于,所述处理后样品浸入荧光分子溶液的时间为10-60min。 9.根据权利要求1所述的屏幕表面裂纹的检测方法,其特征在于,所述荧光分子包括荧光素或罗丹明。 10.一种根据权利要求1-9中任一项所述的屏幕表面裂纹的检测方法在屏幕表面缺陷检测中的应用。 |