详情

原文传递一种晶硅电池片透射式隐裂缺陷检测系统

专利名称：	一种晶硅电池片透射式隐裂缺陷检测系统
摘要：	本实用新型公开一种晶硅电池片透射式隐裂缺陷检测系统，用于检测待检区域的晶硅电池片的隐裂缺陷，包括：固定机架、正透隐裂缺陷检测装置、斜透隐裂缺陷检测装置、红外光源。所述正透隐裂缺陷检测装置包括：第一连接横梁、第一红外相机。所述斜透隐裂缺陷检测装置包括：第二连接横梁、第二红外相机。本实用新型的有益效果在于：能够实现正透隐裂缺陷检测及斜透隐裂缺陷检测。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	浙江;33
申请人：	杭州利珀科技有限公司
发明人：	沈家麒;武小龙;陈嘉文;颜浩;桑鑫华
专利状态：	有效
申请日期：	2022-05-19T00:00:00+0800
发布日期：	2022-12-27T00:00:00+0800
申请号：	CN202221202774.9
公开号：	CN218157585U
代理机构：	上海世圆知识产权代理有限公司
代理人：	顾俊超
分类号：	G01N21/88;G01N21/01;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/88;G01N21/01
申请人地址：	311305 浙江省杭州市临安区青山湖街道大园路723号越秀星汇中心20层2001室
主权项：	1.一种晶硅电池片透射式隐裂缺陷检测系统，用于检测待检区域的晶硅电池片的隐裂缺陷，其特征在于，包括：固定机架、正透隐裂缺陷检测装置、斜透隐裂缺陷检测装置、红外光源；所述固定机架包括：机架左立柱、机架右立柱、左立柱后横梁、右立柱后横梁，所述机架左立柱与所述左立柱后横梁相固定连接，所述机架右立柱与所述右立柱后横梁相固定连接；所述正透隐裂缺陷检测装置包括：第一连接横梁、第一红外相机，所述第一连接横梁固定连接在所述机架左立柱与所述机架右立柱间，所述第一红外相机固定连接在所述第一连接横梁且位于所述待检区域正上方，所述第一红外相机的拍摄方向系竖向向下，使得所述第一红外相机的视场能够覆盖所述待检区域；所述斜透隐裂缺陷检测装置包括：第二连接横梁、第二红外相机，所述第二连接横梁固定连接在所述左立柱后横梁与所述右立柱后横梁间，所述第二红外相机固定连接在所述第二连接横梁且位于所述待检区域后上方，所述第二红外相机的拍摄方向系向前下方，使得所述第二红外相机的视场能够覆盖所述待检区域；所述红外光源位于所述待检区域正下方，所述红外光源的光源方向系竖向向上，使得所述红外光源能够覆盖所述待检区域。 2.根据权利要求1所述的一种晶硅电池片透射式隐裂缺陷检测系统，其特征在于，所述斜透隐裂缺陷检测装置还包括：拍摄背景板，所述拍摄背景板位于所述待检区域前下方，所述拍摄背景板相对于所述第二红外相机。 3.根据权利要求1或2所述的一种晶硅电池片透射式隐裂缺陷检测系统，其特征在于，所述左立柱后横梁垂直于所述机架左立柱且向后方向延伸，所述右立柱后横梁垂直于所述机架右立柱且向后方向延伸，所述左立柱后横梁与所述右立柱后横梁处于同一水平平面。 4.根据权利要求1或2所述的一种晶硅电池片透射式隐裂缺陷检测系统，其特征在于，所述红外光源是条形光源，所述红外光源固定连接在所述机架左立柱与所述机架右立柱间。