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原文传递一种用于陶瓷基板缺陷检测的上色方法及上色装置

专利名称：	一种用于陶瓷基板缺陷检测的上色方法及上色装置
摘要：	本发明公开了一种用于陶瓷基板缺陷检测的上色方法及上色装置，具体包括对上色水域进行加热直至达到预设温度后保温；然后将陶瓷基板沉浸于预设温度的上色水域中预设时间；之后将陶瓷基板从上色水域中取出；最后吸走陶瓷基板的表面的残余上色水，并以送风的方式使陶瓷基板的表面吹干，继而完成陶瓷基板的上色过程。由于陶瓷基板在具有预设温度的上色水域中沉浸了预设时间，继而陶瓷基板取出后本身具有一定的温度，陶瓷基板能够更加快速的实现表干而完成上色，减少等待时间，缩短上色周期，继而减少场地占用压力，有助于提高上色环节的效率；另外，由于采用陶瓷基板沉浸的方式，使得陶瓷基板能够实现双面上色，上色效果更好。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	浙江;33
申请人：	浙江新纳陶瓷新材有限公司
发明人：	葛俊昂;周建伟;王红娥;江裕民;陈征
专利状态：	有效
申请日期：	2022-10-13T00:00:00+0800
发布日期：	2022-12-06T00:00:00+0800
申请号：	CN202211252809.4
公开号：	CN115431388A
代理机构：	北京集佳知识产权代理有限公司
代理人：	林哲生
分类号：	B28B11/00;B28B17/00;B;B28;B28B;B28B11;B28B17;B28B11/00;B28B17/00
申请人地址：	322118 浙江省金华市东阳市横店镇工业大道155号新纳陶瓷
主权项：	1.一种用于陶瓷基板缺陷检测的上色方法，其特征在于，该上色方法包括：步骤S1：对上色水域进行加热直至达到预设温度后保温；步骤S2：将陶瓷基板沉浸于预设温度的上色水域中预设时间；步骤S3：将所述陶瓷基板从所述上色水域中取出；步骤S4：吸走所述陶瓷基板的表面的残余上色水，并以送风的方式使陶瓷基板的表面吹干。 2.如权利要求1所述的用于陶瓷基板缺陷检测的上色方法，其特征在于，所述步骤S1中的预设温度的取值为80℃-90℃；所述步骤S2中的预设时间取值为1S-3S。 3.如权利要求1所述的用于陶瓷基板缺陷检测的上色方法，其特征在于，所述步骤S4包括：步骤S41：利用海绵辊对所述陶瓷基板的表面进行滚动以吸走所述陶瓷基板的表面的残余上色水；步骤S42：通过鼓风机对所述陶瓷基板的表面进行送风以使陶瓷基板的表面吹干。 4.一种用于陶瓷基板缺陷检测的上色装置，其特征在于，包括：上色槽，用于盛装上色水，以供陶瓷基板沉浸于上色水的水面以下；温控组件，用于对所述上色槽内的上色水进行温度控制，以使所述上色水保持在预设温度；残液清除组件(1)，用于将完成上色水浸泡的所述陶瓷基板的表面的残余上色水清除。 5.如权利要求4所述的用于陶瓷基板缺陷检测的上色装置，其特征在于，所述残液清除组件(1)包括依次衔接布置的输送带(11)和吸液辊组(12)，所述输送带(11)用于将完成上色水浸泡的所述陶瓷基板输送至所述吸液辊组(12)；所述吸液辊组(12)包括吸液输送辊组(121)和吸液夹持辊组(122)，所述吸液夹持辊组(122)位于所述吸液输送辊组(121)的输入侧的上方用于与所述吸液输送辊组(121)配合以夹持的方式带动所述陶瓷基板向后续缺陷检测设备输送。 6.如权利要求5所述的用于陶瓷基板缺陷检测的上色装置，其特征在于，所述残液清除组件(1)还包括吹风机构(13)，所述吹风机构(13)位于所述吸液输送辊组(121)的上方且避开所述吸液夹持辊组(122)。 7.如权利要求6所述的用于陶瓷基板缺陷检测的上色装置，其特征在于，所述吹风组件(13)包括风扇(131)和加热单元(132)，所述风扇(131)用于向所述吸液输送辊组(121)上的陶瓷基板进行送风，所述加热单元(132)用于对经过所述风扇(131)的气流进行加热。 8.如权利要求7所述的用于陶瓷基板缺陷检测的上色装置，其特征在于，所述加热单元(132)设置于所述风扇(131)的进风侧和/或出风侧。 9.如权利要求7所述的用于陶瓷基板缺陷检测的上色装置，其特征在于，所述加热单元(132)为安装于所述风扇(131)的框架上的加热条。 10.如权利要求5所述的用于陶瓷基板缺陷检测的上色装置，其特征在于，所述输送带(11)包括多个平行布置的输送轴(111)，相邻两个输送轴(111)之间通过若干皮带(112)传动连接，至少一个所述输送轴(111)为主动轴。