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原文传递缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质

专利名称：	缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质
摘要：	本申请公开了一种缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质，涉及缺陷检测技术领域，所述缺陷检测方法包括：获取待检测的电路板图像，识别所述电路板图像中待进行缺陷检测的所有部件；确定各所述部件的部件类型，确定各所述部件类型中与预设管控尺寸部件类型匹配的目标部件类型；确定所述目标部件类型对应的目标部件，确定所述目标部件对应的实际尺寸信息；确定所述目标部件对应的标准尺寸信息，若所述实际尺寸信息与所述标准尺寸信息不一致，则确定所述电路板图像存在缺陷。本申请成功检出了PCB板的尺寸缺陷。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	湖南;43
申请人：	湖南维胜科技有限公司
发明人：	谭喜平;阳荣军;刘文娟;李建文;唐川
专利状态：	有效
申请日期：	2023-07-24T00:00:00+0800
发布日期：	2023-11-07T00:00:00+0800
申请号：	CN202310908469.4
公开号：	CN117007600A
代理机构：	深圳市世纪恒程知识产权代理事务所
代理人：	许青华
分类号：	G01N21/88;G01N21/956;G01B11/02;G06T7/00;G06T5/00;G06T7/60;G06V10/74;G06V10/764;G;G01;G06;G01N;G01B;G06T;G06V;G01N21;G01B11;G06T7;G06T5;G06V10;G01N21/88;G01N21/956;G01B11/02;G06T7/00;G06T5/00;G06T7/60;G06V10/74;G06V10/764
申请人地址：	410000 湖南省长沙市长沙经济技术开发区东二路10号
主权项：	1.一种缺陷检测方法，其特征在于，所述缺陷检测方法包括以下步骤：获取待检测的电路板图像，识别所述电路板图像中待进行缺陷检测的所有部件；确定各所述部件的部件类型，确定各所述部件类型中与预设管控尺寸部件类型匹配的目标部件类型；确定所述目标部件类型对应的目标部件，确定所述目标部件对应的实际尺寸信息；确定所述目标部件对应的标准尺寸信息，若所述实际尺寸信息与所述标准尺寸信息不一致，则确定所述电路板图像存在缺陷。 2.如权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述确定所述目标部件对应的实际尺寸信息的步骤，包括：确定所述目标部件对应的检测位置，基于所述检测位置裁剪所述电路板图像得到电路板子图像；获取所述电路板子图像的每一像素点的像素值，检测各所述像素值中与预设标准像素阈值匹配的目标像素值；确定所述目标像素值对应的目标像素点，确定所述目标像素点对应的目标尺寸；将所述目标尺寸作为所述目标部件对应的实际尺寸信息。 3.如权利要求2所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述确定所述目标像素点对应的目标尺寸的步骤，包括：确定所述电路板子图像包括的总像素点数量，识别所述电路板子图像的总尺寸；基于所述总像素点数量与所述总尺寸得到第一比值，其中，所述第一比值包括所述总尺寸与所述总像素点数量的比值；确定所述目标像素点包括的目标像素点数量，将所述目标像素点数量乘所述第一比值得到目标尺寸。 4.如权利要求2所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述确定所述目标部件对应的检测位置的步骤，包括：确定所述目标部件在预设坐标系中的目标坐标位置；若所述目标部件类型包括管控自身尺寸部件类型，将所述目标坐标位置作为检测位置；若所述目标部件类型包括管控间隔尺寸部件类型，确定各所述部件中与所述目标部件邻接的第一原部件，确定所述第一原部件在预设坐标系中的第一坐标位置，计算所述第一坐标位置与所述第一坐标位置的中心坐标位置，将所述中心坐标位置作为检测位置。 5.如权利要求4所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述基于所述检测位置裁剪所述电路板图像得到电路板子图像的步骤，包括：确定所述检测位置对应的检测点，以所述检测点为原点在所述电路板图像上裁剪预设像素的部分局部区域图像；将裁剪到的所述部分局部区域图像作为电路板子图像。 6.如权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述获取待检测的电路板图像的步骤之后，所述方法还包括：获取预设标准电路板图像的标准电路板图像，对所述电路板图像进行图像矫正，得到矫正后的电路板图线；将所述矫正后的电路板图像与所述标准电路板图像进行相似度计算，得到相似度计算结果；若所述相似度计算结果小于预设相似度阈值，则确定所述电路板图像存在缺陷。 7.如权利要求1或6所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述确定所述电路板图像存在缺陷的步骤之后，所述方法还包括：获取所述电路板图像的缺陷数据，其中，所述缺陷数据包括缺陷位置、缺陷类别、缺陷级别、缺陷尺寸中的一种或多种；将所述缺陷数据作为所述电路板图像的缺陷检测结果，并输出所述缺陷检测结果。 8.一种缺陷检测装置，其特征在于，所述缺陷检测装置，包括：获取模块，用于获取待检测的电路板图像，识别所述电路板图像中待进行缺陷检测的所有部件；第一确定模块，用于确定各所述部件的部件类型，确定各所述部件类型中与预设管控尺寸部件类型匹配的目标部件类型；第二确定模块，用于确定所述目标部件类型对应的目标部件，确定所述目标部件对应的实际尺寸信息；第三确定模块，用于确定所述目标部件对应的标准尺寸信息，若所述实际尺寸信息与所述标准尺寸信息不一致，则确定所述电路板图像存在缺陷。 9.一种缺陷检测设备，其特征在于，所述缺陷检测设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的缺陷检测程序，所述缺陷检测程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的缺陷检测方法的步骤。 10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有缺陷检测程序，所述缺陷检测程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的缺陷检测方法的步骤。