详情

原文传递金刚石的氮浓度的测定方法及金刚石的氮浓度的测定装置

专利名称：	金刚石的氮浓度的测定方法及金刚石的氮浓度的测定装置
摘要：	一种金刚石的氮浓度的测定方法，其具有第一工序、第二工序和第三工序。在第一工序中，在积分球的内部配置金刚石。在第二工序中，向积分球的内部射入可见光，接收在积分球的内表面反射并且在配置于积分球的内部的金刚石透射或反射的可见光。在第三工序中，基于所接收的可见光的数据以及金刚石的质量，计算金刚石的氮浓度。
专利类型：	发明专利
申请人：	住友电工硬质合金株式会社
发明人：	西泽正行;饭田桃子;目黑贵一
专利状态：	有效
申请日期：	2021-04-28T00:00:00+0800
发布日期：	2023-11-24T00:00:00+0800
申请号：	CN202180097036.4
公开号：	CN117120831A
代理机构：	北京聿宏知识产权代理有限公司
代理人：	吴大建;霍玉娟
分类号：	G01N21/87;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/87
申请人地址：	日本兵库县
主权项：	1.一种金刚石的氮浓度的测定方法，其中，所述金刚石的氮浓度的测定方法具备：第一工序，在该第一工序中，在积分球的内部配置金刚石；第二工序，在该第二工序中，向所述积分球的内部射入可见光，接收在所述积分球的内表面反射并且在配置于所述积分球的内部的所述金刚石透射或反射的所述可见光；以及第三工序，在该第三工序中，基于所接收的所述可见光的数据以及所述金刚石的质量，计算所述金刚石的氮浓度。 2.根据权利要求1所述的金刚石的氮浓度的测定方法，其中，当将第一波长区域中的所述可见光的反射率设为第一反射率、将第二波长区域中的所述可见光的反射率设为第二反射率、将所述第二反射率除以所述第一反射率而得到的值设为反射率比时，所述可见光的数据包含所述反射率比，所述第一波长区域的下限值小于540nm且小于所述第二波长区域的下限值，所述第二波长区域的上限值大于580nm，所述第一波长区域的上限值小于所述第二波长区域的上限值，在所述第三工序中，基于所述金刚石的质量计算所述金刚石的克拉数，基于所计算的所述金刚石的克拉数决定数学式1中的系数A1以及系数A2，基于所述数学式1计算所述金刚石的氮浓度，氮浓度(ppm)＝A1×e(A2×反射率比)…(数学式1)。 3.根据权利要求2所述的金刚石的氮浓度的测定方法，其中，所述第一波长区域不与所述第二波长区域重叠。 4.根据权利要求3所述的金刚石的氮浓度的测定方法，其中，所述第一波长区域的上限值小于540nm，所述第二波长区域的下限值大于580nm。 5.根据权利要求1至4中任一项所述的金刚石的氮浓度的测定方法，其中，在所述第二工序中，射入到所述积分球的内部的所述可见光至少一次在所述积分球的内表面反射后，在配置于所述积分球的内部的所述金刚石透射或反射。 6.一种金刚石的氮浓度的测定装置，其中，所述金刚石的氮浓度的测定装置具备：积分球；发光部，其向所述积分球的内部射入可见光；受光部，其接收在所述积分球的内表面反射并在金刚石透射或反射的所述可见光；以及计算部，其基于由所述受光部接收到的所述可见光的数据以及所述金刚石的质量，进行所述金刚石的氮浓度的计算。 7.根据权利要求6所述的金刚石的氮浓度的测定装置，其中，在所述积分球设置有试样插入孔，所述发光部以沿着所述可见光的入射方向的直线不通过所述试样插入孔且与所述内表面交叉的方式配置。
所属类别：	发明专利