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原文传递一种定量表征砂岩孔隙结构的方法

专利名称：	一种定量表征砂岩孔隙结构的方法
摘要：	本发明提供一种定量表征砂岩孔隙结构的方法。该方法包括：获取针对砂岩样品的铸体薄片单偏光图像；使用Photoshop对所述单偏光图像中孔隙颜色进行色差调整，得到色差调整后的单偏光图像；使用PCAS对所述色差调整后的单偏光图像进行孔隙颜色的容差调整，得到容差调整后的单偏光图像；使用PCAS识别所述容差调整后的单偏光图像对应的孔隙；使用PCAS获取孔隙度数据及其他孔隙特征参数。本发明提供的方法，利用Photoshop对单偏光图像进行孔隙颜色的色差调整，利用PCAS软件对色差调整后的单偏光图像进行孔隙颜色的容差调整，在此基础上，利用PCAS软件实现对对样品数量较大的砂岩铸体薄片孔隙特征的经济、高效、精确定量表征。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	四川;51
申请人：	成都理工大学
发明人：	向芳;郝嘉欣;施紫越
专利状态：	有效
申请日期：	2023-07-25T00:00:00+0800
发布日期：	2023-11-10T00:00:00+0800
申请号：	CN202310916210.4
公开号：	CN117030564A
代理机构：	成都知棋知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：	马晓静
分类号：	G01N15/08;G01N21/21;G06T5/00;G;G01;G06;G01N;G06T;G01N15;G01N21;G06T5;G01N15/08;G01N21/21;G06T5/00
申请人地址：	610059 四川省成都市成华区二仙桥东三路1号
主权项：	1.一种定量表征砂岩孔隙结构的方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一：获取针对砂岩样品的铸体薄片单偏光图像；步骤二：使用Photoshop对所述单偏光图像中孔隙颜色进行色差调整，以使砂岩样品图像的孔隙结构显示清楚，得到色差调整后的单偏光图像；步骤三：使用PCAS对所述色差调整后的单偏光图像进行孔隙颜色的容差调整，以分别提高每个孔隙的识别精度，最终得到容差调整后的单偏光图像；步骤四：使用PCAS识别所述容差调整后的单偏光图像对应的孔隙；步骤五：使用PCAS获取孔隙度数据，并获得其他孔隙特征参数；所述他孔隙特征参数包括：一维特征、二维特征、各孔隙单元的概率熵、形状因子、分形维数。 2.根据权利要求1所述的定量表征砂岩孔隙结构的方法，其特征在于，所述步骤13包括：按照较粗粒径减小物镜倍数、较细粒径增大物镜倍数的原则调整摄像头的放大倍数，以获取砂岩样品的颗粒、填隙物和孔隙图像。 3.根据权利要求1所述的定量表征砂岩孔隙结构的方法，其特征在于，所述步骤二包括：使用Photoshop来处理照片边缘光线暗淡造成铸体颜色分辨率较低、部分孔隙内部铸体充注不完整或存在杂质的情况，从而获得孔隙结构显示清楚的砂岩样品图像。 4.根据权利要求1所述的定量表征砂岩孔隙结构的方法，其特征在于，所述步骤三包括：步骤31：使用PCAS添加多个代表性孔隙色彩作为识别的标准色；步骤32：根据所述标准色占整幅图像孔隙颜色比例大小，设置不同的容差，通过不同的容差，来分别提高每个孔隙的识别精度，所述整幅图像孔隙颜色为提前已添加至PCAS内的颜色。 5.根据权利要求4所述的定量表征砂岩孔隙结构的方法，其特征在于，所述步骤32包括：对于所述比例较大的孔隙颜色，设置较大的容差；对于所述比例较小的孔隙颜色，设置较小的容差。 6.根据权利要求4所述的定量表征砂岩孔隙结构的方法，其特征在于，所述整幅图像孔隙颜色的获取包括：将薄片照片中各种孔隙的代表性颜色与所述已添加至PCAS内的颜色对比，确定该代表性颜色与已添加的标准颜色中R、G、B三个通道的容差是否大于预设值，如果大于预设值，将所述代表性颜色添加至所述PCAS内成为新的标准色。 7.根据权利要求1所述的定量表征砂岩孔隙结构的方法，其特征在于，所述步骤四包括：使用PCAS设置所述孔隙颜色容差调整后的单偏光图像的孔喉封闭半径为2、最小孔隙面积为50，以完成对孔隙的识别。 8.根据权利要求1所述的定量表征砂岩孔隙结构的方法，其特征在于，所述一维特征包括：最大长宽、平均长宽以及周长；所述二维特征包括：平均面积、最大面积。
所属类别：	发明专利