专利名称: |
致密储层微观孔隙结构的表征方法 |
摘要: |
本发明提供一种致密储层微观孔隙结构的表征方法,该致密储层微观孔隙结构的表征方法包括:步骤1,进行压汞实验数据处理;步骤2,利用处理后的数据,绘制喉道半径与区间汞饱和度频率的直方图;步骤3,根据喉道半径与区间汞饱和度频率直方图,选取主峰峰值半径Rf;步骤4,进行压汞数据截取处理;步骤5,计算喉道与孔隙配置系数,利用压汞实验特征数据,求取喉道半径与对应区间汞饱和度乘积之和,作为喉道与孔隙的配置系数。该发明为致密储层微观孔隙结构评价提供了一种可行方法,在致密油藏开发方式选择、开发效果评价及储层评价中有很大的应用前景。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
山东;37 |
申请人: |
中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司胜利油田分公司勘探开发研究院 |
发明人: |
李志鹏;刘显太;杨勇;郭迎春;吕广忠;陈利;卜丽侠;何伟;刘峰;孙玉花;高劲松;王玮;王瑞;张书凡 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201611164619.1 |
公开号: |
CN108204936A |
代理机构: |
济南日新专利代理事务所 37224 |
代理人: |
崔晓艳 |
分类号: |
G01N15/08(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N15;G01N15/08 |
申请人地址: |
257000 山东省东营市东营区济南路125号 |
主权项: |
1.致密储层微观孔隙结构的表征方法,其特征在于,该致密储层微观孔隙结构的表征方法包括:步骤1,进行压汞实验数据处理;步骤2,利用处理后的数据,绘制喉道半径与区间汞饱和度频率的直方图;步骤3,根据喉道半径与区间汞饱和度频率直方图,选取主峰峰值半径Rf;步骤4,进行压汞数据截取处理;步骤5,计算喉道与孔隙配置系数,利用压汞实验特征数据,求取喉道半径与对应区间汞饱和度乘积之和,作为喉道与孔隙的配置系数。 |
所属类别: |
发明专利 |