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原文传递 致密储层微观孔隙结构的表征方法
专利名称: 致密储层微观孔隙结构的表征方法
摘要: 本发明提供一种致密储层微观孔隙结构的表征方法,该致密储层微观孔隙结构的表征方法包括:步骤1,进行压汞实验数据处理;步骤2,利用处理后的数据,绘制喉道半径与区间汞饱和度频率的直方图;步骤3,根据喉道半径与区间汞饱和度频率直方图,选取主峰峰值半径Rf;步骤4,进行压汞数据截取处理;步骤5,计算喉道与孔隙配置系数,利用压汞实验特征数据,求取喉道半径与对应区间汞饱和度乘积之和,作为喉道与孔隙的配置系数。该发明为致密储层微观孔隙结构评价提供了一种可行方法,在致密油藏开发方式选择、开发效果评价及储层评价中有很大的应用前景。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 山东;37
申请人: 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司胜利油田分公司勘探开发研究院
发明人: 李志鹏;刘显太;杨勇;郭迎春;吕广忠;陈利;卜丽侠;何伟;刘峰;孙玉花;高劲松;王玮;王瑞;张书凡
专利状态: 有效
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201611164619.1
公开号: CN108204936A
代理机构: 济南日新专利代理事务所 37224
代理人: 崔晓艳
分类号: G01N15/08(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N15;G01N15/08
申请人地址: 257000 山东省东营市东营区济南路125号
主权项: 1.致密储层微观孔隙结构的表征方法,其特征在于,该致密储层微观孔隙结构的表征方法包括:步骤1,进行压汞实验数据处理;步骤2,利用处理后的数据,绘制喉道半径与区间汞饱和度频率的直方图;步骤3,根据喉道半径与区间汞饱和度频率直方图,选取主峰峰值半径Rf;步骤4,进行压汞数据截取处理;步骤5,计算喉道与孔隙配置系数,利用压汞实验特征数据,求取喉道半径与对应区间汞饱和度乘积之和,作为喉道与孔隙的配置系数。
所属类别: 发明专利
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