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一种识别致密储层微观官能团的方法
| 专利名称： | 一种识别致密储层微观官能团的方法 |
| 摘要： | 本申请实施方式公开了一种识别致密储层微观官能团的方法，包括：对致密储层样品进行处理，获得致密储层样品颗粒；对所述致密储层样品颗粒通过有机溶剂进行饱和处理；对经过饱和处理的致密储层样品颗粒利用红外光谱仪进行测试，获得所述致密储层样品的红外光谱；根据所述致密储层样品的红外光谱识别致密储层微观官能团。本技术方案将化学领域先进成熟的红外光谱实验应用到致密样品测试中，解决了常规的实验仪器无法直接测试岩心体微观表面微观官能团的技术问题。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 中国石油大学(北京) |
| 发明人： | 宁正福;宋磊;王庆;杜华明;胡金柱;张文通 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810208444.2 |
| 公开号： | CN108519343A |
| 代理机构： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 |
| 代理人： | 贾磊;李秀芸 |
| 分类号： | G01N21/35(2014.01)I;G01N21/3563(2014.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/35;G01N21/3563 |
| 申请人地址： | 102249 北京市昌平区府学路18号 |
| 主权项： | 1.一种识别致密储层微观官能团的方法，其特征在于，包括：对致密储层样品进行处理，获得致密储层样品颗粒；对所述致密储层样品颗粒通过有机溶剂进行饱和处理；对经过饱和处理的致密储层样品颗粒利用红外光谱仪进行测试，获得所述致密储层样品的红外光谱；根据所述致密储层样品的红外光谱识别致密储层微观官能团。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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