专利名称: |
一种基于Matlab分析致密砂岩储层孔隙表征的方法 |
摘要: |
本发明公开了一种基于Matlab分析致密砂岩储层孔隙表征的方法,首先读取致密砂岩储层的铸体薄片图像和SEM图像;然后调节图像阈值,将铸体薄片图像和SEM图像进行二值化处理得到二值图像;再通过识别二值图像的黑色像素点,计算孔隙度;并求取致密砂岩储层的孔隙半径分布;最后求取致密砂岩储层的孔洞平均直径及方差,并输出二值图像和求取的数据,应用软件Matlab对致密砂岩储层孔隙表征研究主要分为两种方法,第一种利用内置函数对二值图像进行定量分析,适用于纳米级孔隙与微米级孔隙,第二种利用应用linecut即切片法直接对铸体薄片、SEM图像等进行分析,适用于纳米级孔隙。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
中国地质大学(北京) |
发明人: |
久博;黄文辉;何明倩;刘凯;贾瑜 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810571899.0 |
公开号: |
CN108956416A |
代理机构: |
北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙) 11390 |
代理人: |
胡剑辉 |
分类号: |
G01N15/08(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N15;G01N15/08 |
申请人地址: |
100083 北京市海淀区学院路29号 |
主权项: |
1.一种基于Matlab分析致密砂岩储层孔隙表征的方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤100、读取致密砂岩储层的铸体薄片图像和SEM图像;步骤200、调节图像阈值,将铸体薄片图像和SEM图像进行二值化处理得到二值图像;步骤300、识别二值图像的黑色像素点,计算孔隙度;步骤400、求取致密砂岩储层的孔隙半径分布;步骤500、求取致密砂岩储层的孔洞平均直径及方差,并输出二值图像和求取的数据。 |
所属类别: |
发明专利 |