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原文传递一种基于显微成像光谱的单颗粒荧光粉筛选系统及方法

专利名称：	一种基于显微成像光谱的单颗粒荧光粉筛选系统及方法
摘要：	本发明公开了一种基于显微成像光谱的单颗粒荧光粉筛选系统及方法，涉及LED荧光粉技术领域，其技术要点为：S1、采用传统的固相反应法合成不同组分的荧光粉样品；S2、利用显微成像光谱仪下的不同晶相的发射光谱不同，进行精细区分，结合位置信息实现快速精准定位疑似新型荧光粉；S3、利用单晶X射线衍射仪初步测定其晶格参数；S4、筛选并鉴定具有新晶体结构的发光粒子，晶格参数与结构数据库中存储的晶格参数进行匹配性测试，不匹配的即为新晶体。本发明避免了传统试错法和固态组合化学法中多次分体合成和物相鉴定的繁琐过程。同时，引入显微成像光谱技术可以弥补肉眼识别不准确的缺点，提供更为快速准确的判断依据。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	浙江;33
申请人：	中国计量大学
发明人：	王乐;窦本乐;尹禄;王小月;周洋东
专利状态：	有效
申请日期：	2023-08-15T00:00:00+0800
发布日期：	2023-11-28T00:00:00+0800
申请号：	CN202311023958.8
公开号：	CN117129454A
代理机构：	重庆市信立达专利代理事务所(普通合伙)
代理人：	张丽楠
分类号：	G01N21/64;G01N23/207;G;G01;G01N;G01N21;G01N23;G01N21/64;G01N23/207
申请人地址：	310018 浙江省杭州市下沙高教园区学源街258号
主权项：	1.一种基于显微成像光谱的单颗粒荧光粉筛选方法，其特征是，包括以下步骤： S1、采用传统的固相反应法合成不同组分的荧光粉样品(混合物烧结)； S2、利用显微成像光谱仪下的不同晶相的发射光谱不同，更准确快速的进行精细区分，结合位置信息实现快速精准定位疑似新型荧光粉； S3、利用单晶X射线衍射仪初步测定其晶格参数； S4、筛选并鉴定具有新晶体结构的发光粒子，晶格参数与结构数据库(ICSD)中存储的晶格参数进行匹配性测试，匹配良好的颗粒将被排除，不匹配的即为新晶体。 2.如权利要求1所述的一种基于显微成像光谱的单颗粒荧光粉筛选方法，其特征是：步骤S2基于显微成像光谱技术的分类识别，对于通过显微成像光谱技术采集到的混合荧光粉样品数据，采用传统的高光谱数据处理方法进行分类识别。 3.如权利要求2所述的一种基于显微成像光谱的单颗粒荧光粉筛选方法，其特征是：所述高光谱数据处理方法包括：异常数据消除：消除光谱曲线异常的点，以降低对后续分类精度的影响；数据标准化：将整个视场内的光谱曲线峰值归一化，降低照明不均匀对发光强度的影响；平滑光谱：将光谱曲线平滑化，消除高频噪声，保留低频光谱曲线起伏规律；降噪：消除光谱曲线噪声；降维：高光谱数据量庞大，通过某些算法可以提取出对分类贡献最大的波段，消除数据冗余，提高数据处理效率；分类模型：根据前序处理后的数据构建分类模型；分类器优化：优化分类模型，提高分类精度；光谱和空间域融合：将光谱特征和空间形貌特征结合进行分类判断，进一步提升分类精度；伪彩图像发射光谱：依据分类结果输出伪彩图像，实现可见光不可分荧光粉的区分。
所属类别：	发明专利