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原文传递地基沉降剖面测量装置

专利名称：	地基沉降剖面测量装置
摘要：	一种地基沉降剖面测量装置，包括：设置在被测地基下的管道和管道内的探头、设置在地面上的静力水准零位仪和读数显示仪，探头通过导管与静力水准零位仪相联通、通过导线与读数显示仪相连接。探头接收被测地基沉降引起的压力差转换成电信号并放大，读数显示仪将探头输出的电信号转换成数字信号，显示出被测地基沉降数据。它的主要零部件可重复使用，量测精度为±０．１mm，可测公路、楼房等建筑物地基沉降剖面位移数据。
专利类型：	实用新型专利
申请人：	刘保健
发明人：	刘保健; 谢永利; 郑传超
专利状态：	有效
申请日期：	1999-11-23T00:00:00+0800
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN99253915.3
公开号：	CN2397183
代理机构：	陕西师范大学专利代理事务所
代理人：	申忠才
分类号：	E02D33/00
申请人地址：	710064陕西省西安市翠华路2号西安公路交通大学公路工程学院
主权项：	权利要求书 1．一种地基沉降剖面测量装置，其特征在于它包括：设置在所测地基下的管道；设置在地面上的静力水准零位仪[5]，该静力水准零位仪[5]可提供地基沉降的相对零点；设置在所测地基下管道内可沿管道移动且通过导管与静力水准零位仪[5]相联通的探头[4]，该探头[4]可接收所测地基沉降位移所引起的压力差转换成电信号，并将电信号放大输出；设置在地面上通过导线与探头[4]相连接的读数显示仪[6]，该读数显示仪[6] 将输入的电信号经A／D转换成数字信号，显示出被测地基沉降剖面位移数据。
所属类别：	实用新型