专利名称: | 电子电路基板的电源杂音解析方法、系统以及程序 |
摘要: | 本发明提供了一种电子电路基板的电源杂音解析方法、系统以及程 序,目的在于能够使电子电路稳定工作。在本发明的电子电路基板的电源 杂音解析方法中,基于电子电路基板的电源和接地间的阻抗特性、以及安 装在所述电子电路基板上的半导体设备的电源和接地间的阻抗特性,求出 所述半导体设备中的电源杂音的反射电压,对所述电子电路基板的电源杂 音进行解析。 |
专利类型: | 发明专利 |
申请人: | 日本电气株式会社 |
发明人: | 柏仓和弘 |
专利状态: | 有效 |
申请日期: | 2009-03-11T00:00:00+0800 |
发布日期: | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: | CN200910118185.5 |
公开号: | CN101533426 |
代理机构: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 |
代理人: | 柳春雷;南 霆 |
分类号: | G06F17/50(2006.01)I |
申请人地址: | 日本东京都 |
主权项: | 1. 一种电子电路基板的电源杂音解析方法,其特征在于, 基于电子电路基板的电源和接地间的阻抗特性、以及安装在所述电子 电路基板上的半导体设备的电源和接地间的阻抗特性,求出所述半导体设 备中的电源杂音的反射电压,对所述电子电路基板的电源杂音进行解析。 |
所属类别: | 发明专利 |