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原文传递用于近红外测量的恒温样品池

专利名称：	用于近红外测量的恒温样品池
摘要：	用于近红外测量的恒温样品池，它涉及一种恒温样品池。本发明解决了近红外测量过程由于样品温度的变化导致测量数据不稳定的问题。本发明的金属内壳的前表面和后表面相对开有通光孔，金属内壳位于金属外壳内部，第一半导体热电致冷器位于金属外壳的左侧壁和金属内壳的左侧壁之间，且其两个工作面分别与金属外壳的内壁和金属内壳的外壁连接，第二半导体热电致冷器位于金属外壳的右侧壁和金属内壳的右侧壁之间，且其两个工作面分别与金属内壳的外壁和金属外壳的内壁贴合，第三半导体热电致冷器位于金属内壳的下表面和金属外壳的底面之间，且其两个工作面分别与金属内壳的外壁和金属外壳的内壁贴合。本发明适用于近红外测量样品的过程。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	黑龙江;23
申请人：	哈尔滨工业大学
发明人：	申岩;徐晓轩;武忠臣;俞贞妮
专利状态：	有效
申请日期：	2009-05-19T00:00:00+0800
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN200910072057.1
公开号：	CN101551322
代理机构：	哈尔滨市松花江专利商标事务所
代理人：	张宏威
分类号：	G01N21/01(2006.01)I
申请人地址：	150001黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
主权项：	1、用于近红外测量的恒温样品池，其特征是：它包括金属外壳(1)、金属内壳(2)、第一半导体热电致冷器(3-1)、第二半导体热电致冷器(3-2)、第三半导体热电致冷器(3-3)和隔热材料(10)，金属内壳(2)的前表面和后表面各开有一个通光孔(11)，所述两个通光孔(11)均位于金属内壳(2) 的中轴线上，金属内壳(2)位于金属外壳(1)内部，第一半导体热电致冷器 (3-1)位于金属外壳(1)的左侧壁和金属内壳(2)的左侧壁之间，且第一半导体热电致冷器(3-1)的两个工作面分别与金属外壳(1)的内壁和金属内壳(2)的外壁贴合，第二半导体热电致冷器(3-2)位于金属外壳(1)的右侧壁和金属内壳(2)的右侧壁之间，且第二半导体热电致冷器(3-2)的两个工作面分别与金属内壳(2)的外壁和金属外壳(1)的内壁贴合，第三半导体热电致冷器(3-3)位于金属内壳(1)的下表面和金属外壳(2)的底面之间，且第三半导体热电致冷器(3-3)的两个工作面分别与金属内壳(2)的下面和金属外壳(1)的底面贴合，所述金属内壳(2)与金属外壳(1)之间的空隙填充隔热材料(10)，第一半导体热电致冷器(3-1)、第二半导体热电致冷器 (3-2)和第三半导体热电致冷器(3-3)为相同半导体热电致冷器。
所属类别：	发明专利