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用于X荧光光谱仪的光斑定位调整方法及装置
| 专利名称： | 用于X荧光光谱仪的光斑定位调整方法及装置 |
| 摘要： | 一种用于X荧光光谱仪的光斑定位调整方法及装置，其中定位调整方法 包括：提供狭缝板，设置于X荧光光谱仪样品台上，且覆盖照射区；狭缝板 上设有位于照射区内，且互相垂直呈“L”字形的两条狭缝，以两条狭缝中心 线分别为坐标轴建立直角坐标系，两轴交点为原点；设定光斑初始化位置的 坐标；沿平行于任意一坐标轴的方向移动所述样品台，测出光斑起始位置在 该轴的坐标，并回复至起始位置；沿平行于另一坐标轴的方向移动所述样品 台，测出光斑起始位置在该轴的坐标，并回复至起始位置；根据上述起始位 置以及初始化位置的坐标，移动样品台将光斑定位于初始化位置。本发明具 有装置结构简单，易于改装至光谱仪，适用范围广泛，定位调整迅速精确的 优点。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 江苏;32 |
| 申请人： | 江苏天瑞仪器股份有限公司 |
| 发明人： | 刘召贵;应 刚;李胜辉;李玉花 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2009-03-26T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200910129548.5 |
| 公开号： | CN101551347 |
| 代理机构： | 北京集佳知识产权代理有限公司 |
| 代理人： | 李 丽 |
| 分类号： | G01N23/223(2006.01)I |
| 申请人地址： | 215347江苏省昆山市苇城南路1666号清华科技园天瑞大厦 |
| 主权项： | 1.一种用于X荧光光谱仪的光斑定位调整方法，其特征在于，包括： 提供狭缝板，设置于X荧光光谱仪样品台上，且覆盖照射区； 所述狭缝板上设有位于照射区内，且互相垂直呈“L”字形的两条狭缝， 并以两条狭缝的中心线分别为x轴、y轴建立直角坐标系，两轴的交点为原点； 设定光斑初始化位置的坐标； 沿平行于任意一坐标轴的方向移动所述样品台，测出光斑起始位置在该 轴的坐标，并回复至起始位置； 沿平行于另一坐标轴的方向移动所述样品台，测出光斑起始位置在该轴 的坐标，并回复至起始位置； 根据上述起始位置以及初始化位置的坐标，移动样品台将光斑定位于初 始化位置。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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