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全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置
| 专利名称： | 全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置 |
| 摘要： | 本实用新型公开了全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置，包括探测器和样品盘本体，所述探测器通过支架固定于工作台面的上方，所述样品盘本体的两侧卡入两个定位板的侧面，两个所述定位板的底面均固定连接有防滑垫，所述防滑垫设于工作台面上表面，左侧的所述防滑垫右侧与轴承的外圈固定连接，所述轴承的内圈与螺纹杆的一端固定连接，所述螺纹杆上活动套设有连接块，所述连接块通过蜗轮蜗杆与压板固定连接，所述压板与样品盘本体的底面相接触。本新型将样品盘本体卡入设有卡槽的定位板中，通过对其作用有横向方向上紧凑力度和竖直方向上的托举力，从而防止样品盘本体在工作台面上发生移动。 |
| 专利类型： | 实用新型 |
| 国家地区组织代码： | 四川;51 |
| 申请人： | 成都航空职业技术学院 |
| 发明人： | 陈伟 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201820565900.4 |
| 公开号： | CN208206847U |
| 代理机构： | 成都正华专利代理事务所(普通合伙) 51229 |
| 代理人： | 何凡 |
| 分类号： | G01N23/223(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/223 |
| 申请人地址： | 610000 四川省成都市龙泉驿区车城东七路699号 |
| 主权项： | 1.全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置，包括探测器(1)和样品盘本体(5)，其特征在于：所述探测器(1)通过支架(2)固定于工作台面(3)的上方，所述样品盘本体(5)的两侧卡入两个定位板(4)的侧面，两个所述定位板(4)的底面均固定连接有防滑垫(6)，所述防滑垫(6)设于工作台面(3)上表面，左侧的所述防滑垫(6)右侧与轴承(15)的外圈固定连接，所述轴承(15)的内圈与螺纹杆(11)的一端固定连接，所述螺纹杆(11)的右端贯穿右侧的防滑垫(6),所述螺纹杆(11)上活动套设有连接块(9)，所述连接块(9)通过蜗轮蜗杆(8)与压板(7)固定连接，所述压板(7)与样品盘本体(5)的底面相接触。 |
| 所属类别： | 实用新型 |
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