专利名称: | 利用超声波探伤壁厚检测分层缺陷装置及其检测方法 |
摘要: | 本发明提供一种利用超声波探伤壁厚检测分层缺陷装置,包括有超声 波探头,该探头的安装孔内并列装有二壁厚检测晶片,所述超声波探头中 的壁厚检测二晶片为圆形晶片,二检测晶片的中心距为12.4~12.8mm。还 提供一种利用上述检测分层缺陷装置的检测方法。本发明的效果是经过现 场试验,对标准平底孔缺陷测试效果满足了各项的要求,通过了壳牌认证 并创造了巨大的经济效益,对钢管质量也多了一层把关,仅生产一个批次 约2400吨壳牌管线管直接经济利润达七百万元,由于具有了这项检测功能 在国内同行业中占据了很强的竞争优势,同时也为开拓海外市场的竞争中 提供了技术保障。 |
专利类型: | 发明专利 |
国家地区组织代码: | 天津;12 |
申请人: | 天津钢管集团股份有限公司 |
发明人: | 刘 刚 |
专利状态: | 有效 |
申请日期: | 2009-05-25T00:00:00+0800 |
发布日期: | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: | CN200910069003.X |
公开号: | CN101551361 |
代理机构: | 天津才智专利商标代理有限公司 |
代理人: | 吕志英 |
分类号: | G01N29/24(2006.01)I |
申请人地址: | 300301天津市东丽区津塘公路十号桥 |
主权项: | 1、一种利用超声波探伤壁厚检测分层缺陷装置,包括有超声波探头, 该超声波探头安装在钢管生产线上的超声波探伤机旋转体上,并随旋转体 以350转/分钟的速度旋转,该探头的安装孔内并列装有二壁厚检测晶片, 其特征是:所述超声波探头中的壁厚检测二晶片为圆形晶片,二检测晶片 的中心距为12.4~12.8mm。 |
所属类别: | 发明专利 |