专利名称: | DNA分析装置 |
摘要: | 本发明提供一种DNA分析装置。本发明要解决的问题是:焦磷酸测序中, 在短时间内均匀彻底地进行互补链合成反应,并且仅以必需的时间长度来进行 发光反应,高精度、高灵敏度地进行序列确定。通过将作为序列确定的靶的 DNA固定在固体的载体4表面,将核酸底物从分配器注入载体部位,从而可 以基于小的反应体积在短时间内迅速彻底地进行互补链合成。接着,通过将生 成物连同载体一起转移到发光反应溶液6中,进行反应,从而将DNA互补链 合成反应部位和发光反应部位彻底分离。通过将载体4浸渍在含发光试剂和分 解剩余核酸底物的酶的发光反应溶液6中,从而可以进行载体表面的洗涤,也 进展到下一阶段反应。 |
专利类型: | 发明专利 |
申请人: | 株式会社日立制作所 |
发明人: | 神原秀记;岸本晃彦 |
专利状态: | 有效 |
申请日期: | 2009-04-07T00:00:00+0800 |
发布日期: | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: | CN200910128366.6 |
公开号: | CN101555452 |
代理机构: | 北京银龙知识产权代理有限公司 |
代理人: | 钟 晶 |
分类号: | C12M1/34(2006.01)I |
申请人地址: | 日本东京都 |
主权项: | 1.DNA分析装置,其特征在于,具有: 保持DNA试样的保持部件、 将多种互补链合成底物分别供给于保持在所述保持部件中的DNA试样的 底物供给部、 装有与由DNA互补链合成反应得到的生成物反应而发光的反应溶液的反 应容器、 对所述反应溶液中产生的发光进行检测的光检测器、以及 控制所述保持部件的位置和来自所述底物供给部的互补链合成底物的供 给的控制部, 所述控制部使所述保持部件位于所述反应容器的反应溶液外,从所述底物 供给部进行所述互补链合成底物的供给,之后,将所述保持部件移动到所述反 应容器的反应溶液中。 |
所属类别: | 发明专利 |