专利名称: |
半导体传感器装置、包括这种装置的诊断仪器以及制造这种装置的方法 |
摘要: |
用于感测物质(30)的半导体传感器装置(10),包括在半导体
主体(12)的表面上形成的台面形状的半导体区(11,11’),而包
括要被感测的物质(30)的流体(20)能够沿着台面形状的半导体区
(11)流动,其中台面形状的半导体区(11)在纵向方向上观看时相
继地包括第一半导体子区(1)、第二半导体子区(2)和第三子区(3),
该第一半导体子区包括第一半导体材料,该第二半导体子区包括与第
一半导体材料不同的第二半导体材料,该第三子区包括与第二半导体
材料不同的第三半导体材料。根据本发明,第一和第三半导体材料包
括光学钝态材料而第二半导体材料包括光学活性材料,要被感测的物
质(30)能够改变来自第二子区(2)的电磁辐射(E)的特性并且半
导体传感器装置(10)形成为使得其特性已被改变的电磁辐射(E)能
够到达检测器(50)。根据本发明的传感器装置(10)能够很灵敏、
相对紧凑且易于制造。该辐射(E)能够来自外部源(40)或者能够在
装置(10)中生成。 |
专利类型: |
发明专利 |
申请人: |
皇家飞利浦电子股份有限公司 |
发明人: |
N·N·卡亚;E·P·A·M·巴克斯;T·斯特芬;L·M·博格斯特伦 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2007-12-06T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN200780045234.6 |
公开号: |
CN101558290 |
代理机构: |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人: |
龚海军;刘 红 |
分类号: |
G01N21/47(2006.01)I |
申请人地址: |
荷兰艾恩德霍芬 |
主权项: |
1.用于感测物质(30)的半导体传感器装置(10),包括在半导
体主体(12)的表面上形成的台面形状的半导体区(11,11’),而
包括要被感测的物质(30)的流体(20)能够沿着台面形状的半导体
区(11)流动,其中在纵向方向上观看时台面形状的半导体区(11)
相继地包括第一半导体子区(1)、第二半导体子区(2)和第三子区
(3),该第一半导体子区包括第一半导体材料,该第二半导体子区包
括与第一半导体材料不同的第二半导体材料,该第三子区包括与第二
半导体材料不同的第三半导体材料,其特征在于,第一和第三半导体
材料包括光学钝态材料而第二半导体材料包括光学活性材料,要被感
测的物质(30)能够改变来自第二子区(2)的电磁辐射(E)的特性
并且半导体传感器装置(10)形成为使得其特性已被改变的电磁辐射
(E)能够到达检测器(50)。 |
所属类别: |
发明专利 |