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用于检测标记颗粒的微电子传感器装置
| 专利名称： | 用于检测标记颗粒的微电子传感器装置 |
| 摘要： | 本发明涉及一种用于检测包含例如磁性颗粒(1)的标记颗粒的目 标组件的微电子传感器装置。所述传感器装置包含具有结合表面(12) 的载体(11)，目标组件可以收集在所述结合表面并可选地结合到特定 捕获元件。输入光束(L1)传输到所述载体内且在所述结合表面(12) 全内反射。所述输出光束(L2)内的光的量以及可选地由目标组件在 所述结合表面发射的荧光的量随后被光检测器(31)检测。在全内反 射期间产生的倏逝光受位于所述结合表面(12)的目标组件和/或标记 颗粒(1)影响(吸收，散射)，且因此将在所述输出光束(L2)内消 失。这可用于基于所述输出光束(L2，L2a，L2b)内光的量来确定目 标组件在所述结合表面(12)的数量。磁场发生器(41)可选地用于 在所述结合表面(12)产生磁场(B)，磁性标记颗粒(1)可受所述磁 场操纵，例如15被吸引或排斥。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 申请人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 发明人： | C·A·弗舒伦;D·M·布鲁尔斯;A·A·H·J·英明克;F·K·德泰杰;T·范德威克;A·M·范德利;J·J·H·B·施莱彭 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2007-12-10T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200780045976.9 |
| 公开号： | CN101558305 |
| 代理机构： | 中国专利代理(香港)有限公司 |
| 代理人： | 李亚非;谭祐祥 |
| 分类号： | G01N33/543(2006.01)I |
| 申请人地址： | 荷兰艾恩德霍芬 |
| 主权项： | 1.一种用于检测包含标记颗粒(1)的目标组件的微电子传感器 装置，包括： a)具有结合表面(12，112，512)的载体(11，111，211，311， 411，514)，目标组件可以收集在所述结合表面； b)光源(21，121)，用于发射输入光束(L1，L1a，L1b)到所述 载体内，使得所述输入光束在研究区域(13，313a，313b)内在所述 结合表面全内反射； c)光检测器(31，131)，用于确定输出光束(L2，L2a，L2b)内 光的量，所述输出光束包含所述全内反射光的至少一部分。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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