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双面电路板的基板检测系统、检测方法及其检测用的载具
| 专利名称： | 双面电路板的基板检测系统、检测方法及其检测用的载具 |
| 摘要： | 一种双面电路板的基板检测系统，包括一计算机系统、一自动光学检测仪及一载具，所 述自动光学检测仪用于获得待测双面电路板的影像信息，并将其传送给计算机系统进行处理 ，所述载具包括一第一板及一第二板，该两板上均设置两组承载孔，其中第一组承载孔形状 与所述待测双面电路板一面的形状相同，第二组承载孔形状与所述待测双面电路板另一面的 形状相同，所述第一板及第二板可相互扣合。本发明还包括一种双面电路板的基板检测方法 及其检测用的载具。利用所述载具可以快速将待测双面电路板翻面，从而得以节省检测时间 。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 广东;44 |
| 申请人： | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 发明人： | 万隆文;王 飞 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2008-04-24T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200810301299.9 |
| 公开号： | CN101566460 |
| 分类号： | G01B11/00(2006.01)I |
| 申请人地址： | 518109广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号 |
| 主权项： | 1.一种双面电路板的基板检测系统，用于检测待测双面电路板，其 包括一计算机系统、一自动光学检测仪及一载具，所述自动光学检测仪用于获得待测双面电 路板的实际影像，并将其传送给所述计算机系统进行处理，所述载具用于承载所述待测双面 电路板，所述待测双面电路板包括一第一面及一第二面，其特征在于：所述载具包括一第一 板及一第二板，所述第一板上设置若干第一承载孔及若干第二承载孔，其中每一第一承载孔 的形状与所述待测双面电路板第一面的形状相同，每一第二承载孔的形状与所述待测双面电 路板第二面的形状相同，所述第二板上设置若干与第一承载孔的形状、数量及分布均相同的 第三承载孔及若干与第二承载孔的形状、数量及分布均相同的第四承载孔，所述第二板翻转 后可与第一板扣合在一起，以方便地翻转所述待测双面电路板，其中每一第一承载孔与对应 的第四承载孔用于容纳一待测电路板，每一第二承载孔与对应的第三承载孔用于容纳一待测 电路板。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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