专利名称: |
双面电路板的基板检测系统、检测方法及其检测用的载具 |
摘要: |
一种双面电路板的基板检测系统,包括一计算机系统、一自动光学检测仪及一载具,所
述自动光学检测仪用于获得待测双面电路板的影像信息,并将其传送给计算机系统进行处理
,所述载具包括一第一板及一第二板,该两板上均设置两组承载孔,其中第一组承载孔形状
与所述待测双面电路板一面的形状相同,第二组承载孔形状与所述待测双面电路板另一面的
形状相同,所述第一板及第二板可相互扣合。本发明还包括一种双面电路板的基板检测方法
及其检测用的载具。利用所述载具可以快速将待测双面电路板翻面,从而得以节省检测时间
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专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
广东;44 |
申请人: |
鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
发明人: |
万隆文;王 飞 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2008-04-24T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN200810301299.9 |
公开号: |
CN101566460 |
分类号: |
G01B11/00(2006.01)I |
申请人地址: |
518109广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号 |
主权项: |
1.一种双面电路板的基板检测系统,用于检测待测双面电路板,其
包括一计算机系统、一自动光学检测仪及一载具,所述自动光学检测仪用于获得待测双面电
路板的实际影像,并将其传送给所述计算机系统进行处理,所述载具用于承载所述待测双面
电路板,所述待测双面电路板包括一第一面及一第二面,其特征在于:所述载具包括一第一
板及一第二板,所述第一板上设置若干第一承载孔及若干第二承载孔,其中每一第一承载孔
的形状与所述待测双面电路板第一面的形状相同,每一第二承载孔的形状与所述待测双面电
路板第二面的形状相同,所述第二板上设置若干与第一承载孔的形状、数量及分布均相同的
第三承载孔及若干与第二承载孔的形状、数量及分布均相同的第四承载孔,所述第二板翻转
后可与第一板扣合在一起,以方便地翻转所述待测双面电路板,其中每一第一承载孔与对应
的第四承载孔用于容纳一待测电路板,每一第二承载孔与对应的第三承载孔用于容纳一待测
电路板。 |
所属类别: |
发明专利 |