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一种对待测样品中的待测元素进行测定的方法
| 专利名称： | 一种对待测样品中的待测元素进行测定的方法 |
| 摘要： | 本发明提供了一种对待测样品中的待测元素进行测定的方法，该方法在 计算校正系数K时所用的样品基体与待测样品基体极为相似，大大减少了由 于基体差异因素带来的影响，从而使测定结果的准确性更高。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 申请人： | 攀枝花新钢钒股份有限公司 |
| 发明人： | 陈荣庆 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2008-05-04T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200810094117.5 |
| 公开号： | CN101571499 |
| 代理机构： | 北京润平知识产权代理有限公司 |
| 代理人： | 王 崇;黄章辉 |
| 分类号： | G01N23/223(2006.01)I |
| 申请人地址： | 617067四川省攀枝花市东区弄弄坪 |
| 主权项： | 1、一种对样品中的待测元素进行测定的方法，该方法包括：通过X射 线荧光光谱法测定待测样品中的待测元素的分析线强度Ii和干扰元素的分析 线强度Ik；获得谱线重叠干扰校正系数K；使用得到的校正系数K对待测样 品中的待测元素的分析线强度Ii进行校正，得到待测元素校正后的分析线强 度I′i，其特征在于，获得校正系数K的方法包括： 1)将待测样品作为校正样品A； 2)将待测样品与含有干扰元素的物质混合，得到校正样品B； 3)通过X射线荧光光谱法分别测定校正样品A和校正样品B中的待测 元素和干扰元素的分析线强度，并通过公式(I)计算得到谱线重叠干扰校正系 数K： |
| 所属类别： | 发明专利 |
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