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待测液制备方法及同时测定样品中氟、氯和硫含量的方法
| 专利名称： | 待测液制备方法及同时测定样品中氟、氯和硫含量的方法 |
| 摘要： | 本公开提供一种待测液制备方法及同时测定样品中氟、氯和硫含量的方法。待测液制备方法包括：将粉末样品和混合熔剂放入坩埚中并在400‑800℃加热，其中混合熔剂为固体并包含氢氧化钠或氢氧化钾以及氧化镁；对加热后物料进行浸取，获得待测液。本公开能够借助氧化镁的“骨架”作用而避免熔融液喷溅，从而避免样品流失，保证后续对样品测定的准确性和重复性。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 申请人： | 河北光兴半导体技术有限公司;北京盛达众安科技有限公司 |
| 发明人： | 刘永长;胡恒广;闫冬成;张广涛;刘文渊 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2023-06-27T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2023-11-10T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN202310768124.3 |
| 公开号： | CN117030907A |
| 代理机构： | 北京格式化知识产权代理事务所(普通合伙) |
| 代理人： | 任欣欣 |
| 分类号： | G01N30/06;G01N30/02;G01N1/44;G01N1/28;G01N1/38;G;G01;G01N;G01N30;G01N1;G01N30/06;G01N30/02;G01N1/44;G01N1/28;G01N1/38 |
| 申请人地址： | 050000 河北省石家庄市高新区中山东路931号; |
| 主权项： | 1.一种待测液制备方法，其特征在于，包括： 将粉末样品和混合熔剂放入坩埚中并在400-800℃加热，其中所述混合熔剂为固体并包含氢氧化钠或氢氧化钾以及氧化镁； 对加热后物料进行浸取，获得所述待测液。 2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述混合熔剂中，氢氧化钠或氢氧化钾与氧化镁的质量比为(2-5):1。 3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述粉末样品和所述混合熔剂的质量用量比为(1-3):10。 4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，加热温度为400-550℃。 5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法中不加入任何酸。 6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述粉末样品为由玻璃样品制备的玻璃粉末或粉煤灰。 7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述粉末样品的粒度小于80μm；和/或所述粉末样品经过干燥处理。 8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将粉末样品和混合熔剂放入坩埚中，包括：先将一部分所述混合熔剂铺在所述坩埚底部，再放入所述粉末样品，然后将另一部分所述混合熔剂铺在所述粉末样品上。 9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对加热后物料进行浸取，包括： 利用温度为60-80℃的热水对所述加热后物料进行浸取，获得浸取物； 对所述浸取物同时进行水浴加热和超声波浸取，获得所述待测液。 10.一种同时测定样品中氟、氯和硫含量的方法，其特征在于，包括：利用离子色谱法对待测液进行检测，以确定样品中氟含量、氯含量和硫含量，其中所述待测液根据权利要求1-9任一项所述的方法制备。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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