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直接测定样品中痕量铝、硅、磷、硫、氯含量的分析装置及方法
| 专利名称： | 直接测定样品中痕量铝、硅、磷、硫、氯含量的分析装置及方法 |
| 摘要： | 本发明涉及一种直接测定样品中痕量铝、硅、磷、硫、氯元素含量的分析装置及方法，该装置包括X射线荧光分析仪单元(200)、充气单元(100)、样品杯(300)以及控制单元；X射线荧光分析仪单元(200)包括能够进行气体填充的样品测试腔(203)；充气单元(100)能够可控制地向样品测试腔(203)内进行充气、排气；控制单元，对该分析装置进行控制，并将采集到的数据进行积分、统计、绘制工作曲线、标定等处理，一次性得到被测样品中铝、硅、磷、硫、氯每个元素的含量。本发明的优点在于样品无需前处理，适用于固体和液体样品，具有无损、直接、快速、灵敏度高、使用成本低、便于现场测量等特点。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 钢研纳克检测技术股份有限公司 |
| 发明人： | 廖学亮;程大伟;刘明博;胡学强;杨博赞;倪子月;岳元博;周超;宋春苗;陈吉文 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811256793.8 |
| 公开号： | CN109239117A |
| 代理机构： | 北京中安信知识产权代理事务所(普通合伙) 11248 |
| 代理人： | 张小娟 |
| 分类号： | G01N23/223(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23 |
| 申请人地址： | 100081 北京市海淀区高粱桥斜街13号 |
| 主权项： | 1.一种直接测定样品中痕量铝、硅、磷、硫、氯元素含量的分析装置，其特征在于：该装置包括X射线荧光分析仪(200)、充气单元(100)、样品杯(300)以及控制单元；其中，所述X射线荧光分析仪单元(200)包括能够进行气体填充的样品测试腔(203)；充气单元(100)，能够可控制地向样品测试腔(203)内进行充气、排气；样品杯(300)，能够放置液体或固体样品，具有可透过X射线的至少一层薄膜；控制单元，对该分析装置进行控制，并将采集到的数据进行积分、统计、绘制工作曲线、标定等处理，一次性得到被测样品中铝、硅、磷、硫、氯每个元素的含量。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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