详情

原文传递直接测定样品中痕量铝、硅、磷、硫、氯含量的分析装置

专利名称：	直接测定样品中痕量铝、硅、磷、硫、氯含量的分析装置
摘要：	本实用新型涉及一种直接测定样品中痕量铝、硅、磷、硫、氯元素含量的分析装置，该装置包括X射线荧光分析仪单元(200)、充气单元(100)、样品杯(300)以及控制单元；X射线荧光分析仪单元(200)包括能够进行气体填充的样品测试腔(203)；充气单元(100)能够可控制地向样品测试腔(203)内进行充气、排气；控制单元，对该分析装置进行控制，并将采集到的数据进行积分、统计、绘制工作曲线、标定等处理，一次性得到被测样品中铝、硅、磷、硫、氯每个元素的含量。本实用新型的优点在于样品无需前处理，适用于固体和液体样品，具有无损、直接、快速、灵敏度高、使用成本低、便于现场测量等特点。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	钢研纳克检测技术股份有限公司
发明人：	廖学亮;陈吉文;程大伟;刘明博;胡学强;杨博赞;倪子月;岳元博;周超;宋春苗
专利状态：	有效
申请日期：	2018-10-26T00:00:00+0800
发布日期：	2019-08-23T00:00:00+0800
申请号：	CN201821745099.8
公开号：	CN209296621U
代理机构：	北京中安信知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：	张小娟
分类号：	G01N23/223(2006.01);G;G01;G01N;G01N23
申请人地址：	100081 北京市海淀区高粱桥斜街13号
主权项：	1.一种直接测定样品中痕量铝、硅、磷、硫、氯元素含量的分析装置，其特征在于：该装置包括X射线荧光分析仪单元(200)、充气单元(100)、样品杯(300)以及控制单元；其中，所述X射线荧光分析仪单元(200)包括能够进行气体填充的样品测试腔(203)；充气单元(100)，能够可控制地向样品测试腔(203)内进行充气、排气；样品杯(300)，能够放置液体或固体样品，具有可透过X射线的至少一层薄膜；控制单元，对该分析装置进行控制，并将采集到的数据进行积分、统计、绘制工作曲线、标定等处理，一次性得到被测样品中铝、硅、磷、硫、氯每个元素的含量。 2.如权利要求1所述的直接测定样品中痕量铝、硅、磷、硫、氯元素含量的分析装置，其特征在于：所述X射线荧光分析仪单元(200)包括X射线光管(201)、样品测试腔(203)、硅漂移探测器(204)、滤光片(205)、准直器(206)；所述样品杯(300)设于样品测试腔(203)内；硅漂移探测器(204)的端部设有探测器保护装置(207)；探测器保护装置(207)位于样品测试腔(203)内；所述准直器(206)设于样品测试腔(203)内；样品测试腔(203)外部与准直器(206)相对应的位置设有X射线光管(201)；准直器(206)与X射线光管(201)连通，连通处设有可切换的滤光片(205)；所述准直器(206)能够将X射线光管(201)的X射线直接投射入样品杯(300)；控制单元与所述硅漂移探测器(204)、X射线光管(201)电连接。 3.如权利要求1所述的直接测定样品中痕量铝、硅、磷、硫、氯元素含量的分析装置，其特征在于：所述充气单元(100)包括气路连接管(101)和不同气源的多个气瓶(106)；气瓶(106)通过气路连接管(101)与样品测试腔(203)连通；气路连接管(101)上设有多个气体流量传感器(104)和电磁阀(105)，所述气体流量传感器(104)和电磁阀(105)由控制单元中的计算机(211)控制。 4.如权利要求1所述的直接测定样品中痕量铝、硅、磷、硫、氯元素含量的分析装置，其特征在于：所述样品杯(300)包括可拆卸的固定的杯体(301)、下杯口卡套(302)、上杯口卡套(303)、位于杯体(301)上下口的两片薄膜(304)；杯体(301)外侧为上粗下细外倾斜，下杯口卡套(302)内径为上粗下细，下杯口卡套(302)和上杯口卡套(303)内径与杯体(301)外径为紧密配合。 5.如权利要求1所述的直接测定样品中痕量铝、硅、磷、硫、氯元素含量的分析装置，其特征在于：所述样品杯(300)材质为耐腐蚀塑料。 6.如权利要求1所述的直接测定样品中痕量铝、硅、磷、硫、氯元素含量的分析装置，其特征在于：所述样品测试腔(203)为一立方体，下部有呈对称夹角设置的两个工作斜面，X射线光管(201)和硅漂移探测器(204)分别临近上述两个工作斜面；样品测试腔(203)的相对两侧面分别设有进气口(102)和出气口(103)。 7.如权利要求1所述的直接测定样品中痕量铝、硅、磷、硫、氯元素含量的分析装置，其特征在于：所述控制单元中，有选自台式电脑、笔记本电脑、工控计算机、ipad、手机的智能设备。
所属类别：	实用新型