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原文传递 气体辐射探测器及辐射成像系统
专利名称: 气体辐射探测器及辐射成像系统
摘要: 一种气体辐射探测器,包括:电极对,该电极对包括多个子电极 对,所述多个子电极对沿射线的入射方向排列。当前的发明在同一个气 体室内实现了多能射线同时测量的功能,材料成本低,几何结构简单, 操作方便,使用寿命长,可根据应用的射线能量区间来灵活调整气体种 类和压力,以达到高的探测效率,解决了双能固体探测器的低能探测器 太薄,不易制备的难题,而且同一气体室保证了各路信号的一致性高, 后续数据处理简单。该发明可以广泛应用于辐射成像领域。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 北京;11
申请人: 同方威视技术股份有限公司;清华大学
发明人: 张 岚;李元景;刘以农;赵自然;刘文国;吴万龙;姚 楠;陈雅薇;王永强;王清华
专利状态: 有效
申请日期: 2008-05-09T00:00:00+0800
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN200810106280.9
公开号: CN101576516
代理机构: 中科专利商标代理有限责任公司
代理人: 张成新
分类号: G01N23/083(2006.01)I
申请人地址: 100084北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
主权项: 1.一种气体辐射探测器,包括: 电极对,该电极对包括多个子电极对,所述多个子电极对沿射线的 入射方向排列。
所属类别: 发明专利
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