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原文传递 辐射成像系统
专利名称: 辐射成像系统
摘要: 公开了一种辐射成像系统,包括:加速器,用于产生透射待检查 物体的射线和同步信号;具备多个探测模块的探测设备,用于探测射 线;信号处理装置,根据同步信号产生选择信号,以选择一个探测模 块对射线进行探测;数据变换装置,将所述探测模块所探测的信号变 换成数字数据,并缓存在所述信号处理装置中;以及通讯控制装置, 与图像处理设备连接,并将所述信号处理装置中缓存的数字数据通过 所述连接传输到所述图像处理设备。本发明的系统允许当数据量很大 时时,都能够高速稳定的采集数据和变换数据,并正确可靠地传输数 据
专利类型: 发明专利
申请人: 清华大学;同方威视技术股份有限公司
发明人: 康克军;陈志强;李元景;王利明;刘以农;孙尚民;张 丽;刘耀红;杨 光;张清军;刘文国;梁思远;郭振斌;胡 斌;邓艳丽;吴玉成
专利状态: 有效
申请日期: 2007-07-02T00:00:00+0800
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN200710118200.7
公开号: CN101339147
代理机构: 中科专利商标代理有限责任公司
代理人: 王波波
分类号: G01N23/04(2006.01)I
申请人地址: 100084北京市海淀区清华大学
所属类别: 发明专利
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